NF X06-024:1993
Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos.

Estándar No.
NF X06-024:1993
Fecha de publicación
1993
Organización
Association Francaise de Normalisation
Estado
 2006-12
Remplazado por
NF X06-022-5:2005
NF X06-024:2006
NF X06-022-5*NF ISO 2859-5:2005
Ultima versión
NF X06-022-5:2005
NF X06-024:2017
NF X06-022-5*NF ISO 2859-5:2005
 

NF X06-024:1993 Historia

  • 0000 NF X06-022-5:2005
  • 1993 NF X06-024:1993 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos.

Temas especiales sobre estándares y normas

Una celda de muestra y una celda de referencia. Una de las muestras paralelas fue detectada y la otra no fue detectada.

estándares y especificaciones

DS/ISO 8422:1992 Planes de muestreo UNI ISO 28591:2019 Planes de muestreo DS/ISO 8422:2007 Planes de muestreo ISO 28591:2017 Planes de muestreo ISO 8422:2006 Planes de muestreo BS ISO 8422:2007 Planes de muestreo KS Q ISO 8422:2009 Planes de muestreo JIS Z 9009:1999 Planes de muestreo GOST R 50779.75-1999 de muestreo secuencial KS Q ISO 8422-2019 Planes de muestreo


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