NF X06-024:2006
Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos.

Estándar No.
NF X06-024:2006
Fecha de publicación
2006
Organización
Association Francaise de Normalisation
Estado
 2017-12
Remplazado por
NF X06-024:2017
NF X06-024*NF ISO 28591:2017
Ultima versión
NF X06-024*NF ISO 28591:2017
Reemplazar
NF X06-024:1993
 

Introducción
Este estándar establece un plan de muestreo para la inspección de productos fabricados en serie, basado en la evaluación de atributos. Define los métodos necesarios para seleccionar muestras de manera sistemática durante la producción continua, con el fin de garantizar la calidad del producto. El documento proporciona directrices sobre cómo realizar la inspección, los criterios de aceptación y los procedimientos para evaluar la conformidad con los requisitos establecidos. Incluye información sobre los tipos de muestreo, los niveles de inspección y los factores que influyen en la elección del plan adecuado. Este estándar se aplica a procesos de producción donde se requiere un control estadístico de la calidad para asegurar que los productos cumplan con las especificaciones exigidas.

NF X06-024:2006 Historia

  • 2017 NF X06-024*NF ISO 28591:2017 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos
  • 0000 NF X06-024:2017
  • 2006 NF X06-024:2006 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos.
  • 0000 NF X06-022-5:2005
  • 1993 NF X06-024:1993 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos.

estándares y especificaciones




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