BS ISO 28591:2017
Cambios rastreados. Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos

Estándar No.
BS ISO 28591:2017
Fecha de publicación
2017
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
BS ISO 28591:2017
Reemplazar
BS ISO 8422:2006
 

Alcance
Esta Norma Internacional especifica planes y procedimientos de muestreo secuencial para la inspección de atributos de artículos discretos. Estos planes están indexados por los puntos de riesgo del productor y del consumidor. Por lo tanto, pueden usarse no solo para fines de muestreo de aceptación, sino también para la verificación de hipótesis estadísticas simples más generales. El propósito de esta norma es proporcionar procedimientos para la evaluación secuencial de los resultados de la inspección que pueden usarse para inducir a los proveedores a proporcionar buenos lotes con una alta probabilidad de aceptación mediante presión económica y psicológica para no aceptar lotes de baja calidad. Al mismo tiempo, los consumidores están protegidos por un límite superior específico en la probabilidad de aceptar lotes de baja calidad. Los planes de muestreo proporcionados en esta norma son aplicables, pero no se limitan a, inspecciones en diferentes áreas, tales como: productos finales, componentes y materias primas, operaciones, materiales en proceso, suministros en almacenamiento, operaciones de mantenimiento, datos o registros, y procedimientos administrativos. Esta norma contiene planes de muestreo para la inspección de atributos de artículos discretos. Estos planes de muestreo se pueden utilizar en casos donde la proporción (o porcentaje) de elementos no conformes o el número de elementos no conformes por elemento (por cada 100 elementos) indica el grado de no conformidad. Los planes de muestreo se basan en el supuesto de que los elementos no conformes ocurren aleatoriamente y estadísticamente de forma independiente. Los planes de muestreo de esta norma se deben utilizar principalmente para el análisis de muestras de proceso. Por ejemplo, se pueden utilizar para el muestreo de aceptación de lotes extraídos de un proceso controlado estadísticamente. Sin embargo, también se pueden utilizar para el muestreo de aceptación de lotes aislados cuando el tamaño del lote aislado es grande y la proporción esperada de elementos no conformes es pequeña (significativamente inferior al 10%). Para el muestreo de aceptación de lotes consecutivos, se debe utilizar un sistema de plan de muestreo secuencial indexado por el límite de calidad de aceptación (NCA) para la inspección de lotes según lo publicado en la norma ISO 2859-5.

BS ISO 28591:2017 Documento de referencia

  • ISO 2859-1:1999 Procedimientos de muestreo para la inspección por atributos - Parte 1: Esquemas de muestreo indexados por el límite de calidad de aceptación (AQL) para la inspección lote por lote
  • ISO 2859-5:2005 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Parte 5: Sistema de planes de muestreo secuencial indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote
  • ISO 28590:2017 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos - Introducción a la serie de normas ISO 2859 para muestreo para inspección por atributos
  • ISO 3534-1:2006 Estadística - Vocabulario y símbolos - Parte 1: Términos estadísticos generales y términos utilizados en probabilidad
  • ISO 3534-2:2006 Estadística - Vocabulario y símbolos - Parte 2: Estadística aplicada
  • ISO 8423:2008 Planes de muestreo secuencial para inspección por variables para porcentaje no conforme (desviación estándar conocida)

BS ISO 28591:2017 Historia

  • 2017 BS ISO 28591:2017 Cambios rastreados. Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos
  • 2007 BS ISO 8422:2007 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos
  • 2007 BS ISO 8422:2006 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos

BS ISO 28591:2017 Cambios rastreados. Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos ha sido cambiado a BS ISO 8422:2006 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos.

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