DS/EN 60749-11:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura. Método de dos baños de fluido.

Estándar No.

DS/EN 60749-11:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

Danish Standards Foundation

Estado

ser reemplazado 2003-03

Remplazado por

DS/EN 60749-11/Corr.1:2003

Ultima versión

DS/EN 60749-11/Corr.2:2004

Alcance

Esta parte de IEC 60749 define el método de prueba de cambio rápido de temperatura y el método de dos baños de fluido. Cuando ambos métodos de prueba se realizan como parte de la calificación de un dispositivo, los resultados de los ciclos de temperatura aire a aire tienen prioridad sobre este método de prueba de dos baños de fluidos. Este método de prueba también se puede utilizar, empleando menos ciclos (por ejemplo, de 5 a 10 ciclos), para probar el efecto de la inmersión en líquidos calentados que se utilizan para limpiar dispositivos. Esta prueba es aplicable a todos los dispositivos semiconductores. Se considera destructivo a menos que se detalle lo contrario en la especificación correspondiente. En general, este cambio rápido de temperatura y el método del baño de dos fluidos

DS/EN 60749-11:2003 Historia

• 2004 DS/EN 60749-11/Corr.2:2004 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura. Método de dos baños de fluido.
• 2003 DS/EN 60749-11/Corr.1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura. Método de dos baños de fluido.
• 2003 DS/EN 60749-11:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura. Método de dos baños de fluido.

Temas especiales sobre estándares y normas

estándares y especificaciones