IEC 62506:2013
Métodos para pruebas aceleradas de productos.

Estándar No.
IEC 62506:2013
Fecha de publicación
2013
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado
Remplazado por
IEC 62506:2023 CMV
Ultima versión
IEC 62506:2023 CMV
Reemplazar
IEC 56/1503/FDIS:2013
 

Alcance
Esta norma internacional proporciona orientación sobre la aplicación de diversas técnicas de prueba aceleradas para medir o mejorar la confiabilidad del producto. La identificación de posibles modos de falla que podrían experimentarse en el uso de un producto/artículo y su mitigación es fundamental para garantizar la confiabilidad de un artículo. El objetivo de los métodos es identificar posibles debilidades del diseño o proporcionar información sobre la confiabilidad del elemento@ o lograr la mejora necesaria en la confiabilidad/disponibilidad@, todo dentro de un período de tiempo comprimido o acelerado. Esta norma aborda las pruebas aceleradas de sistemas reparables y no reparables. Se puede utilizar para pruebas secuenciales de índice de probabilidad (pruebas de duración fija) y pruebas de mejora/crecimiento de confiabilidad (donde la medida de confiabilidad puede diferir de la probabilidad estándar de ocurrencia de falla). Esta norma también se extiende para presentar pruebas aceleradas o métodos de detección de producción que identificarían debilidades introducidas en el producto por un error de fabricación que podría comprometer la confiabilidad del producto.

IEC 62506:2013 Historia

  • 0000 IEC 62506:2023 CMV
  • 2013 IEC 62506:2013 Métodos para pruebas aceleradas de productos.
Métodos para pruebas aceleradas de productos.

estándares y especificaciones




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