KS C 6032-1981
Procedimiento general de prueba de tasa de fallas para componentes electrónicos.

Estándar No.
KS C 6032-1981
Fecha de publicación
1981
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS C 6032-1981(2016)
Ultima versión
KS C 6032-2021
Reemplazar
KS C 6032-1972
 
Alcance
Esta especificación especifica productos fabricados continuamente a partir esencialmente del mismo diseño y de acuerdo con controles de calidad establecidos.

KS C 6032-1981 Historia

  • 2021 KS C 6032-2021 Procedimiento general de prueba de tasa de fallas para componentes electrónicos.
  • 0000 KS C 6032-1981(2016)
  • 1981 KS C 6032-1981 Procedimiento general de prueba de tasa de fallas para componentes electrónicos.
  • 0000 KS C 6032-1972

Temas especiales sobre estándares y normas

Fallo temprano del componente Fallo temprano de componentes electrónicos. Los componentes militares fallaron Método de prueba de tasa de falla de componentes

estándares y especificaciones

JIS C 5003:1974 ERTA general de prueba de tasa de fallas de componentes electrónicos JIS C 5003:1974 general de prueba de tasa de fallas para componentes electrónicos. KS C 6032-1981(2021 general de prueba de tasa de fallas para componentes electrónicos. KS C 6032-2021 Procedimiento general de prueba de tasa de fallas para componentes electrónicos. KS C 6032-1981(2016 Procedimiento general de prueba de tasa de fallas para componentes electrónicos. CNS 11476-1994 Procedimiento de prueba general de tasa de fallas para componentes electrónicos JIS C 5003-1974 errata GJB 2649A-2011 Planes y procedimientos de muestreo de tasas de fallas para componentes electrónicos militares GSO IEC/TR 62380:2014 Manual de datos de confiabilidad: modelo universal para la predicción de confiabilidad de componentes electrónicos, PCB y equipos


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