IEC 62149-8:2014
Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Norma de rendimiento. Parte 8: Dispositivos amplificadores ópticos semiconductores reflectantes sembrados.

Estándar No.
IEC 62149-8:2014
Fecha de publicación
2014
Organización
International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión
IEC 62149-8:2014
Reemplazar
IEC 86C/1144/CDV:2013
Alcance
"Esta parte de IEC 62149 cubre la especificación de rendimiento para dispositivos amplificadores ópticos semiconductores reflectantes (RSOA) utilizados para aplicaciones de transmisión de datos ópticos y telecomunicaciones por fibra óptica. El estándar de rendimiento contiene una definición de los requisitos de rendimiento del producto junto con una serie de conjuntos de pruebas. y mediciones con condiciones claramente definidas @ severidades @ y criterios de aprobación/rechazo. Las pruebas están destinadas a realizarse "una vez" para demostrar la capacidad de cualquier producto para satisfacer los requisitos del estándar de rendimiento. Un producto que ha sido demostrado cumplir con todos los requisitos de una norma de desempeño puede declararse que cumple con la norma de desempeño@ pero luego debe ser controlado por un programa de garantía de calidad/conformidad de calidad".

IEC 62149-8:2014 Documento de referencia

  • IEC 60749-10:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico.
  • IEC 60749-11:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 11: Cambio rápido de temperatura; Método de dos baños de líquidos
  • IEC 60749-12:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 12: Vibración, frecuencia variable.
  • IEC 60749-25:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 25: Ciclos de temperatura.
  • IEC 60749-26:2013 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 26: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo del cuerpo humano (HBM).
  • IEC 60749-6:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.
  • IEC 60749-7:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
  • IEC 60825-1:2007 Seguridad de los productos láser - Parte 1: Clasificación y requisitos de los equipos
  • IEC 60950-1:2005 Equipos de tecnología de la información - Seguridad - Parte 1: Requisitos generales
  • IEC 61300-2-19:2012 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 2-19: Pruebas. Calor húmedo (estado estable).
  • IEC 61300-2-48:2009 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 2-48: Pruebas. Ciclos de temperatura-humedad.
  • IEC 61300-2-4:1995 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos. Procedimientos básicos de prueba y medición. Parte 2-4: Pruebas. Retención de fibra/cable.
  • IEC Guide 107:2009 Compatibilidad electromagnética – Guía para la redacción de publicaciones de compatibilidad electromagnética

IEC 62149-8:2014 Historia

  • 2014 IEC 62149-8:2014 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Norma de rendimiento. Parte 8: Dispositivos amplificadores ópticos semiconductores reflectantes sembrados.



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