Esta norma especifica los requisitos, métodos de prueba, reglas de inspección, marcado, embalaje, transporte y almacenamiento de obleas epitaxiales de diodos emisores de luz visibles (en adelante, obleas epitaxiales). Esta norma se aplica a las series de galio, arsénico y fósforo, galio, aluminio y arsénico, aluminio, galio, indio y fósforo y obleas epitaxiales de aluminio, galio, indio y nitruro.
SJ/T 11470-2014 Documento de referencia
GB/T 14264-2009 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
GB/T 2828.1-2003 Procedimientos de muestreo para inspección por atributos. Parte 1: Esquemas de muestreo indexados por límite de calidad de aceptación (AQL) para inspección lote por lote.