IEC TS 62132-9:2014
Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 9: Medición de la inmunidad radiada. Método de escaneo de superficie.

Estándar No.

IEC TS 62132-9:2014

Fecha de publicación

2014

Organización

International Electrotechnical Commission (IEC)

Ultima versión

IEC TS 62132-9:2014

Reemplazar

IEC 47A/924/DTS:2014

IEC TS 62132-9:2014 Documento de referencia

• IEC 60050-101:1998 Vocabulario electrotécnico internacional - Parte 101: Matemáticas
• IEC 60050-102:2007 Vocabulario electrotécnico internacional - Parte 102: Matemáticas - Conceptos generales y álgebra lineal
• IEC 60050-103:2009 Vocabulario electrotécnico internacional - Parte 103: Matemáticas - Funciones
• IEC 60050-111:1996 Vocabulario Electrotécnico Internacional - Capítulo 111: Física y química
• IEC 60050-112:2010 Vocabulaire Electrotechnique International – Parte 112: Grandeurs et unités (Edición 1.0)
• IEC 60050-113:2011 Vocabulario electrotécnico internacional - Parte 113: Física para la electrotecnología
• IEC 60050-114:2014 Vocabulario electrotécnico internacional - Parte 114: Electroquímica
• IEC 60050-121:1998 Vocabulario electrotécnico internacional - Parte 121: Electromagnetismo
• IEC 60050-55:1970 Vocabulario electrotécnico internacional. Parte 55: Telegrafía y telefonía.

IEC TS 62132-9:2014 Historia

• 2014 IEC TS 62132-9:2014 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 9: Medición de la inmunidad radiada. Método de escaneo de superficie.

IEC TS 62132-9:2014 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 9: Medición de la inmunidad radiada. Método de escaneo de superficie. ha sido cambiado a IEC 47A/924/DTS:2014 CEI/TS 62132-9, ed. 1: Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 9: Medición de la inmunidad radiada. Método de escaneo de superficie..