DIN EN 62047-20:2015
Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 20: Giroscopios (IEC 62047-20:2014); Versión alemana EN 62047-20:2014

Estándar No.
DIN EN 62047-20:2015
Fecha de publicación
2015
Organización
German Institute for Standardization
Estado
Remplazado por
DIN EN 62047-20:2015-04
Ultima versión
DIN EN 62047-20:2015-04
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DIN EN 62047-20:2012

DIN EN 62047-20:2015 Documento de referencia

  • IEEE 952-1997 Guía de formato de especificación y procedimiento de prueba para giroscopios de fibra óptica interferométrica de un solo eje
  • ISO 16063-15:2006 Métodos para la calibración de transductores de vibración y choque - Parte 15: Calibración de vibración angular primaria mediante interferometría láser

DIN EN 62047-20:2015 Historia

  • 2015 DIN EN 62047-20:2015-04 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 20: Giroscopios (IEC 62047-20:2014); Versión alemana EN 62047-20:2014
  • 2015 DIN EN 62047-20:2015 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 20: Giroscopios (IEC 62047-20:2014); Versión alemana EN 62047-20:2014
  • 1970 DIN EN 62047-20 E:2012-07
  • 0000 DIN EN 62047-20:2012



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