KS Q ISO 8422:2015
Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos

Estándar No.
KS Q ISO 8422:2015
Fecha de publicación
2015
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
 2019-01
Remplazado por
KS Q ISO 8422-2019
Ultima versión
KS Q ISO 8422-2019
Reemplazar
AISO8422
 

Introducción
Este estándar proporciona un marco para la aplicación de esquemas de muestreo secuencial en el contexto de inspecciones de conteo. Define los criterios y procedimientos necesarios para la selección de muestras en etapas sucesivas, permitiendo una evaluación continua de la calidad de un lote. El documento establece las condiciones bajo las cuales se debe detener o continuar el proceso de muestreo, basándose en la aceptación o rechazo del lote según los niveles de calidad especificados. También incluye consideraciones sobre la determinación de los parámetros del esquema, como el tamaño de la muestra inicial y los umbrales de aceptación. Este estándar se enfoca en la aplicación práctica de métodos estadísticos para la toma de decisiones en inspecciones de productos.

KS Q ISO 8422:2015 Historia

  • 2019 KS Q ISO 8422-2019 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos
  • 2015 KS Q ISO 8422:2015 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos
  • 2009 KS Q ISO 8422:2009 Planes de muestreo secuencial para inspección por atributos
  • 0000 KS Q ISO 8422:2001

estándares y especificaciones




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