IEC 62951-1:2017 Dispositivos semiconductores. Dispositivos semiconductores flexibles y estirables. Parte 1: Método de prueba de flexión para películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles. normas y especificaciones

Alcance: Esta parte de IEC 62951 especifica un método de prueba de flexión para medir las propiedades electromecánicas o la flexibilidad de películas delgadas conductoras depositadas o unidas sobre sustratos flexibles no conductores. Las películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles se utilizan ampliamente en dispositivos electrónicos flexibles y semiconductores flexibles. Las películas delgadas conductoras incluyen cualquier película depositada o unida sobre un sustrato flexible no conductor, tal como una película metálica delgada, un electrodo conductor transparente y una película delgada de silicio. Los comportamientos eléctricos y mecánicos de películas delgadas sobre sustratos flexibles difieren de los de películas y sustratos independientes debido a sus interacciones interfaciales y adhesión entre la película y el sustrato. El objetivo de esta norma es establecer métodos de prueba simples y repetibles para evaluar las propiedades electromecánicas o la flexibilidad de películas delgadas conductoras sobre sustratos flexibles. Los métodos de prueba de flexión incluyen la prueba de flexión exterior y la prueba de flexión interior.

IEC 62951-1:2017 Documento de referencia

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