SJ/T 2658.8-2015
Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos.Parte 8: Intensidad radiante (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 2658.8-2015

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2015

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 2658.8-2015

Reemplazar

SJ 2658.8-1986

Alcance

Esta parte especifica el diagrama del principio de medición, los pasos de medición y las condiciones específicas para la intensidad de radiación de los diodos emisores de infrarrojos semiconductores (en lo sucesivo, dispositivos). Esta sección se aplica a los diodos emisores de infrarrojos semiconductores.

SJ/T 2658.8-2015 Documento de referencia

• CIE 127-1997 Medición de LED
• GB/T 2900.65-2004 Terminología electrotécnica-Iluminación
• SJ/T 2658.1 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos.Parte 1: Generalidades

SJ/T 2658.8-2015 Historia

• 2015 SJ/T 2658.8-2015 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos.Parte 8: Intensidad radiante
• 1970 SJ 2658.8-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de radiancia normal

SJ/T 2658.8-2015 Método de medición para diodos semiconductores emisores de infrarrojos.Parte 8: Intensidad radiante ha sido cambiado a SJ 2658.8-1986 Métodos de medición de diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición de radiancia normal.