BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015
Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas. Condiciones generales y definiciones. Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano

Estándar No.

BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015

Fecha de publicación

2015

Organización

British Standards Institution (BSI)

Ultima versión

BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015

Reemplazar

BS PD IEC/TR 61967-1-1:2010

BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Documento de referencia

• IEC 60050 Enmienda 3 - Vocabulario Electrotécnico Internacional (IEV) - Parte 904: Estandarización ambiental para productos y sistemas eléctricos y electrónicos*， 2019-10-17 Actualizar
• IEC 61967-1 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 1: Condiciones generales y definiciones*， 2018-12-12 Actualizar
• IEC 62132-1 Circuitos integrados - Medición de la inmunidad electromagnética - Parte 1: Condiciones generales y definiciones*， 2015-10-29 Actualizar
• IEC TS 61967-3 Circuitos integrados - Medición de emisiones electromagnéticas - Parte 3: Medición de emisiones radiadas - Método de escaneo de superficie
• IEC TS 62132-9 Circuitos integrados. Medición de la inmunidad electromagnética. Parte 9: Medición de la inmunidad radiada. Método de escaneo de superficie.
• ISO 8879 Procesamiento de información - Sistemas de texto y ofimáticos - Lenguaje de marcado generalizado estándar (SGML); Corrigendum técnico 2

BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Historia

• 2015 BS PD IEC/TR 61967-1-1:2015 Circuitos integrados. Medición de emisiones electromagnéticas. Condiciones generales y definiciones. Formato de intercambio de datos de escaneo de campo cercano
• 0000 BS PD IEC/TR 61967-1-1:2010