ISO 22514-3:2020
Métodos estadísticos en la gestión de procesos. Capacidad y rendimiento. Parte 3: Estudios de rendimiento de la máquina para datos medidos en piezas discretas.

Estándar No.
ISO 22514-3:2020
Fecha de publicación
2020
Organización
International Organization for Standardization (ISO)
Ultima versión
ISO 22514-3:2020
 

Alcance
Este documento describe los pasos para realizar estudios de rendimiento a corto plazo que normalmente se realizan en máquinas (incluidos dispositivos, electrodomésticos, aparatos) donde se consideran piezas producidas consecutivamente en condiciones de repetibilidad. El número de observaciones a analizar varía según los patrones que producen los datos o si las tiradas (la velocidad a la que se producen los artículos) en la máquina son bajas en cantidad. Los métodos no se consideran adecuados cuando el tamaño de la muestra producida es inferior a 30 observaciones. Se describen métodos para manejar los datos y realizar los cálculos. Además, se describen los índices de rendimiento de la máquina y las acciones requeridas al finalizar un estudio de rendimiento de la máquina. Este documento no es aplicable cuando se espera que estén presentes patrones de desgaste de herramientas durante la duración del estudio, ni si hay autocorrelación entre observaciones. La situación en la que una máquina ha capturado los datos, a veces miles de puntos de datos recopilados en un minuto, no se considera adecuada para la aplicación de este documento.

ISO 22514-3:2020 Historia

  • 2020 ISO 22514-3:2020 Métodos estadísticos en la gestión de procesos. Capacidad y rendimiento. Parte 3: Estudios de rendimiento de la máquina para datos medidos en piezas discretas.
  • 2008 ISO 22514-3:2008 Métodos estadísticos en la gestión de procesos. Capacidad y rendimiento. Parte 3: Estudios de rendimiento de la máquina para datos medidos en piezas discretas.
Métodos estadísticos en la gestión de procesos. Capacidad y rendimiento. Parte 3: Estudios de rendimiento de la máquina para datos medidos en piezas discretas.

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