(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
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JEDEC JEP178-2021
Alcance
Este documento se aplica a la información sobre el nivel de resistencia a descargas electrostáticas (ESD) en hojas de datos u otras publicaciones, como informes de fiabilidad o calificación. Esta información debe proporcionarse para todos los dispositivos semiconductores encapsulados, circuitos de película delgada, dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW), dispositivos optoelectrónicos, circuitos integrados híbridos (HIC) y módulos multichip (MCM). Nota: Este documento no se aplica a dispositivos explosivos de activación eléctrica, líquidos o polvos inflamables.
JEDEC JEP178-2021 Documento de referencia
ESD ADV1.0 Glosario de términos*, 2024-05-06 Actualizar
IEC 61000-4-2 Compatibilidad electromagnética (CEM) – Parte 4-2: Técnicas de prueba y medición – Prueba de inmunidad a descargas electrostáticas*, 2025-03-01 Actualizar
JEDEC JEP178-2021 Historia
2021JEDEC JEP178-2021 Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD): informes de niveles de resistencia a ESD en hojas de datos