JEDEC JEP178-2021
Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD): informes de niveles de resistencia a ESD en hojas de datos

Estándar No.
JEDEC JEP178-2021
Fecha de publicación
2021
Organización
(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association
Ultima versión
JEDEC JEP178-2021
 

Alcance
Este documento se aplica a la información sobre el nivel de resistencia a descargas electrostáticas (ESD) en hojas de datos u otras publicaciones, como informes de fiabilidad o calificación. Esta información debe proporcionarse para todos los dispositivos semiconductores encapsulados, circuitos de película delgada, dispositivos de ondas acústicas superficiales (SAW), dispositivos optoelectrónicos, circuitos integrados híbridos (HIC) y módulos multichip (MCM). Nota: Este documento no se aplica a dispositivos explosivos de activación eléctrica, líquidos o polvos inflamables.

JEDEC JEP178-2021 Documento de referencia

  • ESD ADV1.0 Glosario de términos*2024-05-06 Actualizar
  • IEC 61000-4-2 Compatibilidad electromagnética (CEM) – Parte 4-2: Técnicas de prueba y medición – Prueba de inmunidad a descargas electrostáticas*2025-03-01 Actualizar

JEDEC JEP178-2021 Historia

  • 2021 JEDEC JEP178-2021 Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD): informes de niveles de resistencia a ESD en hojas de datos
Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD): informes de niveles de resistencia a ESD en hojas de datos

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