Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido son: Equipo óptico, Dispositivos de visualización electrónica., Medidas lineales y angulares., Materiales de construcción, Óptica y medidas ópticas., Vocabularios, Educación, Química analítica, Productos de hierro y acero., Pruebas no destructivas, Tratamiento superficial y revestimiento., Metales no ferrosos, Calidad del aire, Optoelectrónica. Equipo láser, Idiomas utilizados en la tecnología de la información., Pinturas y barnices, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Termodinámica y mediciones de temperatura., Protección contra el crimen.


British Standards Institution (BSI), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • 13/30203227 DC BS ISO 13083. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Normas sobre la definición y calibración de la resolución espacial de la Microscopía de Resistencia a la Difusión de Barrido y la Microscopía de Capacitancia de Barrido
  • 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
  • BS ISO 22493:2008 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
  • BS ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • 06/30128226 DC ISO 22493. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
  • BS ISO 16700:2016 Cambios rastreados. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de la imagen

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
  • JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido

American Society for Testing and Materials (ASTM), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • ASTM E766-14 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2017) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM E986-97 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E986-04(2024) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98(2008)e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E766-14(2019) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM C1723-10 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-16(2022) Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM C1723-16 Guía estándar para el examen de hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM C1723-25 Guía estándar para el examen del hormigón endurecido mediante microscopía electrónica de barrido
  • ASTM E766-14e1 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08(2015) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E1813-96(2002) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
  • ASTM E1813-96(2007) Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
  • ASTM E2142-08(2023) Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2142-08 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E1813-96e1 Práctica estándar para medir e informar la forma de la punta de la sonda en microscopía de sonda de barrido
  • ASTM B748-90(2010) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
  • ASTM B748-90(2021) Método de prueba estándar para medir el espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
  • ASTM B748-21 Método de ensayo normalizado para la medición del espesor de recubrimientos metálicos mediante la medición de la sección transversal con un microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E1588-10 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
  • ASTM E1588-95(2001) Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
  • ASTM E2142-01 Métodos de prueba estándar para calificar y clasificar inclusiones en acero utilizando el microscopio electrónico de barrido
  • ASTM E1588-95 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de energía dispersiva
  • ASTM E1588-08 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • JIS K 0149-1:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • JIS K 0149-1:2019 Microanálisis con haz de partículas -- Microscopía electrónica por barrido -- Directrices para la calibración de la magnificación de la imagen

International Organization for Standardization (ISO), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
  • ISO 16700:2016 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 16700:2004 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • ISO 11039:2012 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
  • ISO 22493:2008 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.

Egyptian Organization for Standards & Quality (EOS), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • ES 8862:2024 CUALIFICACIÓN DEL MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO PARA MEDICIONES CUANTITATIVAS EN EL ANÁLISIS CON MICROBEAM
  • ES 8864:2024 Análisis de microhaces: método de microscopía electrónica de barrido para evaluar dimensiones críticas mediante CD-SEM
  • ES 8863:2024 RECOMENDACIONES DE MICROANÁLISIS CON MICROSCOPIA ELECTRÓNICA DE BARRIDO PARA CALIBRAR EL AUMENTO DE LA IMAGEN

Professional Standard - Commodity Inspection, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
  • SN/T 3009-2011 Identificación de la corrosión del agua de mar en superficies metálicas mediante SEM.

Professional Standard - Machinery, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
  • JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
  • JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • KS I 0051 Reglas generales para microscopía electrónica de barrido
  • KS I 0051-1999(2019) Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-2024 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido
  • KS M 0044-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-2019 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS I 0051-1999 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
  • KS D ISO 22493 Análisis de microhaces — Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D ISO 22493-2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D ISO 22493-2012(2017) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2022 Análisis de microhaces —Microscopía electrónica de barrido — Vocabulario
  • KS D ISO 22493:2012 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Vocabulario
  • KS D ISO 16700:2013 Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS D 2714-2016(2021) Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
  • KS D ISO 16700 Análisis con microhaces — Microscopía electrónica de barrido — Directrices para la calibración de la ampliación de imagen
  • KS D ISO 16700-2023 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
  • KS D ISO 16700-2013(2018) Análisis de microhaz-Microscopía electrónica de barrido-Directrices para calibrar la ampliación de imágenes
  • KS D 2714-2016 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral
  • KS D 2714-2021 Microscopio de sonda de barrido-Método para microscopio de fuerza lateral

Group Standards of the People's Republic of China, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • T/SPSTS 032-2023 Especificaciones generales para microscopía electroquímica de barrido.
  • T/CSTM 00795-2022 Datos experimentales de materiales: requisitos para imágenes de microscopio electrónico de barrido.
  • T/COEMA 210-2024 El radar láser utiliza un espejo de escaneo multifacético.
  • T/COEMA 21O-2024 Espejo de escaneo poligonal para LIDAR
  • T/QGCML 1940-2023 Dispositivo de prueba mecánica de alta temperatura in situ con microscopio electrónico de barrido

COMMISSION FOR THE STANDARDS, METROLOGY AND QUALITY OF VIETNAM (STAMEQ), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • TCVN 13872:2023 nanotecnología. Medición de la distribución de tamaño y forma de partículas mediante microscopía electrónica de barrido

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • GB/T 27788-2011 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
  • GB/T 27788-2020 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Pautas para calibrar la ampliación de imágenes
  • GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
  • GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
  • GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
  • GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
  • GB/T 16594-2008 Reglas generales para la medición de longitud en escala de micras mediante SEM
  • GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM

Kingdom of Bahrain Testing and Metrology Directorate, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

GCC Standardization Organization, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • GSO ISO 22493:2015 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Vocabulario

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • GJB 2666A-2018 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
  • GJB 2666-1996 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.

Professional Standard - Education, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
  • JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.

American Water Works Association (AWWA), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • AWWA ACE56156 Evaluación de patrones de contaminación de la superficie de la membrana mediante un escáner de superficie plana y un microscopio electrónico de barrido

Netherlands Institute for Standardization, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • ISO 22493:2014 en Análisis de Microrayos - Microscopía Electrónica de Barrido - Glosario
  • ISO 22493:2008 en Análisis de microondas - Microscopía electrónica de barrido - Glosario

Association Francaise de Normalisation, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • NF X21-005:2006 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Directrices para calibrar la ampliación de imágenes.
  • NF ISO 16700:2006 ANÁLISIS DE MICROHAZ - MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA DE BARRIDO - DIRECTRICES PARA LA CALIBRAR LA AMPLIACIÓN DE LA IMAGEN

Professional Standard - Petroleum, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.
  • SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
  • SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
  • SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

Association of German Mechanical Engineers, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • VDI 3866 Blatt 5-2017 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido
  • VDI 3866 Blatt 5-2004 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido

American National Standards Institute (ANSI), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

Gosstandart of Russia, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • GOST R 8.636-2007 Sistema estatal para garantizar la uniformidad de las mediciones. Microscopios electrónicos de barrido. Métodos de calibración

Swedish Institute for Standards, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • SS-ISO 9220:1989 Recubrimientos metálicos - Mediciones del espesor del recubrimiento - Método de microscopio electrónico de barrido

Electrostatic Discharge Association (ESDA), Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • ESD SP14.5-2021 Práctica estándar de la Asociación ESD para pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas: escaneo de inmunidad de campo cercano: nivel de componente/módulo/PCB
  • ESD SP14.5-2015 Práctica estándar de la Asociación ESD para pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas: escaneo de inmunidad de campo cercano: nivel de componente/módulo/PCB

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • DB32/T 4546-2023 Especificaciones técnicas para la inspección automatizada de imágenes de diatomeas mediante microscopios electrónicos de barrido.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • DB44/T 1527-2015 Método de evaluación de la claridad de la imagen del microscopio electrónico de barrido del análisis de microhaz

Professional Standard - Judicatory, Bloque estándar para microscopio electrónico de barrido

  • SF/T 0139-2023 Inspección de suelos mediante microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X




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