Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Microscopio electrónico de barrido y rayos X. son: Física. Química, Protección contra el crimen, Equipo óptico, Óptica y medidas ópticas., Pinturas y barnices, Ciencias médicas y establecimientos de atención de salud en general., Pruebas no destructivas, Productos de metales no ferrosos..
International Organization for Standardization (ISO), Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
- ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías: caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva
Professional Standard - Judicatory, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
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General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
- GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
- GB/T 17362-1998 Método no destructivo de análisis EDS por rayos X con SEM para joyería de oro
- GB/T 17359-1998 Especificación general del análisis cuantitativo EDS de rayos X para EPMA y SEM
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- GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
Professional Standard - Public Safety Standards, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
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- GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
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- GA/T 1521-2018 Ciencia forense Plásticos Examen de composición elemental Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
- GA/T 1519-2018 Ciencia forense Tóner Composición elemental Inspección Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
- GA/T 1520-2018 Ciencia forense polvo negro, polvo pirotécnico inspección de composición de elementos microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X
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Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
- DB35/T 110-2000 Sonda electrónica y microscopio electrónico de barrido Método de análisis del espectro de energía de rayos X para la detección de evidencia física de pintura
Professional Standard - Commodity Inspection, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
- SN/T 2649.1-2010 Determinación de amianto en cosméticos para importación y exportación. Parte 1: Método de difracción de rayos X y microscopía electrónica de barrido.
Professional Standard - Energy, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
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Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
- GJB 2666-1996 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
- GJB 2666A-2018 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
American Society for Testing and Materials (ASTM), Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
- ASTM E2809-13 Guía estándar para el uso de microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X en exámenes de pintura forense
- ASTM E1588-07e1 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
- ASTM E1588-07 Guía estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de energía dispersiva
- ASTM E1588-20 Práctica estándar para el análisis de residuos de disparos mediante microscopía electrónica de barrido/espectrometría de rayos X de dispersión de energía
VDI - Verein Deutscher Ingenieure, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
- VDI/VDE 5575 BLATT 4-2018 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X y sistemas de espejos de rayos X - espejos de reflexión total y multicapa
- VDI/VDE 5575 BLATT 4-2017 Sistemas ópticos de rayos X - Espejos de rayos X y sistemas de espejos de rayos X - espejos de reflexión total y multicapa
American Society of Mechanical Engineers (ASME), Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
- ASME B89.4.23-2020 Evaluación del rendimiento de la tomografía computarizada (TC) de rayos X
American National Standards Institute （ANSI), Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
GB-REG, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
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- VDI/VDE 5575 BLATT 4:2018 Sistemas ópticos de rayos X — Espejos de rayos X y sistemas de espejos de rayos X — Espejos de reflexión total y multicapa
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
Group Standards of the People's Republic of China, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
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Gosstandart of Russia, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
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Bureau of Indian Standards, Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
- IS 16410-2017 Nanotecnologías - Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y espectrometría de rayos X por energía dispersiva Análisis
British Standards Institution (BSI), Microscopio electrónico de barrido y rayos X.
- DD ISO/TS 10798:2011 Nanotecnologías. Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y análisis de espectrometría de rayos X de energía dispersiva.