semi-hiperespectral
semi-hiperespectral, Total: 39 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en semi-hiperespectral son: químicos inorgánicos, Óptica y medidas ópticas., Sistemas y operaciones espaciales., Optoelectrónica. Equipo láser, Carne, productos cárnicos y otros productos animales., Geología. Meteorología. Hidrología, Componentes electrónicos en general., Minerales no metalíferos, Dispositivos semiconductores, Aplicaciones de la tecnología de la información., Telecomunicaciones en general, Metales no ferrosos, Materiales semiconductores, Mediciones de radiación.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, semi-hiperespectral
- GB/T 29856-2013 Caracterización de nanotubos de carbono semiconductores de pared simple mediante espectroscopia de fotoluminiscencia en el infrarrojo cercano
- GB/T 33252-2016 Nanotecnología: pruebas de rendimiento para espectrómetros Raman de microscopio confocal láser
- GB/T 31010-2014(英文版) Calibración espectral de laboratorio de sensores remotos hiperespectrales dispersivos.
- GB/T 31010-2014 Calibración espectral en laboratorio para sensor hiperespectral dispersivo
Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, semi-hiperespectral
- CNS 13805-1997 Método de medición de fotoluminiscencia de obleas semiconductoras optoelectrónicas
Consultative Committee for Space Data Systems (CCSDS), semi-hiperespectral
Professional Standard - Electron, semi-hiperespectral
- SJ 2355.7-1983 Método de medición de la longitud de onda de emisión máxima y el ancho de banda de radiación espectral de dispositivos emisores de luz.
- SJ/T 11401-2009 Programa en serie para diodos emisores de luz semiconductores.
- SJ/Z 3206.13-1989 Reglas generales para el análisis del espectro de emisión de materiales semiconductores.
- SJ 2658.12-1986 Métodos de medición para diodos infrarrojos semiconductores Métodos de medición para la longitud de onda de emisión máxima y la mitad del ancho espectral
- SJ 50033/35-1994 Especificación detallada para el optoacoplador semiconductor de alta velocidad tipo GH30
农业农村部, semi-hiperespectral
- NY/T 3947-2021 Determinación de selenocistina, metilnitrocisteína y selenometionina en carne de ganado y aves de corral mediante cromatografía líquida de alta resolución-espectrometría de fluorescencia atómica
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, semi-hiperespectral
- GJB/Z 41.3-1993 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores de espectro de serie de dispositivos discretos semiconductores militares
- GJB 9726-2020 Especificaciones para generadores de imágenes hiperespectrales espaciales
- GJB 9079-2017 Requisitos de transmisión satélite-tierra de datos de reconocimiento hiperespectral
Professional Standard - Meteorology, semi-hiperespectral
- QX/T 159-2012 Especificación para la medición del espectro atmosférico mediante espectroscopía terrestre de transformada de Fourier de alta resolución espectral
Gosstandart of Russia, semi-hiperespectral
- GOST 25567-1982 Caolín concentrado. Método de análisis del espectro.
- GOST 19834.3-1976 Emisores semiconductores. Métodos para medir la distribución relativa de energía espectral y el ancho de banda espectral.
- GOST 27981.1-1988 Cobre de alta pureza. Métodos de análisis atómico-espectral.
- GOST 27981.1-2015 Cobre de alta pureza. Método de análisis atómico-espectral.
- GOST 23116.2-1978 Cadmio de alta pureza. Método de determinación espectrográfica de mercurio.
- GOST 23116.4-1978 Cadmio de alta pureza. Método de determinación espectrográfica de zinc.
- GOST 22518.4-1977 Plomo de alta pureza. Método espectral para la determinación del mercurio.
- GOST 23116.5-1978 Cadmio de alta pureza. Método químico-espectral de determinación del talio.
- GOST 24977.2-1981 Telurio de alta pureza. Método espectral para la determinación de impurezas.
- GOST 27981.3-1988 Cobre de alta pureza. Método de análisis espectral de emisión con registro fotoeléctrico del espectro / Nota: Será reemplazado por GOST 31382 (2009).
- GOST 20766-1975 Detectores de espectrómetros semiconductores de radiación ionizante. Tipos y parámetros básicos.
Professional Standard - Agriculture, semi-hiperespectral
- GB/T 43968-2024 Reglas generales para los métodos de análisis con cromatografía líquida de alta resolución y espectrómetro de fluorescencia atómica.
Group Standards of the People's Republic of China, semi-hiperespectral
SCC, semi-hiperespectral
- CEI 45-35:1997 Métodos de prueba estandarizados de espectrómetros de rayos X de semiconductores.
International Telecommunication Union (ITU), semi-hiperespectral
GSO, semi-hiperespectral
- GSO ISO 18381:2017 Sistemas de transferencia de información y datos espaciales: compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdidas
- OS GSO ISO 18381:2017 Sistemas de transferencia de información y datos espaciales: compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdidas
International Organization for Standardization (ISO), semi-hiperespectral
- ISO 18381:2013 Sistemas de transferencia de información y datos espaciales: compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdidas
British Standards Institution (BSI), semi-hiperespectral
- BS ISO 18381:2013 Sistemas de transferencia de información y datos espaciales. Compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales sin pérdidas
- 20/30391483 DC BS ISO 24121. Sistemas de transferencia de información y datos espaciales. Transformación de preprocesamiento espectral para compresión de imágenes multiespectrales e hiperespectrales
IN-BIS, semi-hiperespectral
- IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR
Professional Standard - Non-ferrous Metal, semi-hiperespectral
- YSBS 35127-2022 Muestra estándar para análisis espectral de acero con alto contenido de carbono 82B