IS 12737-1988
PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR

Estándar No.
IS 12737-1988
Fecha de publicación
1990
Organización
IN-BIS
Ultima versión
IS 12737-1988
 
Alcance
Esta norma presenta procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores. Dichos sistemas constan de un conjunto detector de radiación semiconductor y una electrónica de procesamiento de señales interconectada a un analizador/computadora de altura de pulso. Esta norma no cubre los procedimientos de prueba para analizadores de altura de pulso y computadoras. La cláusula 5 es esencialmente tutorial.

IS 12737-1988 Historia

  • 1990 IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR

Temas especiales sobre estándares y normas

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estándares y especificaciones

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