Semiconductor de espectrómetro de energía

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Semiconductor de espectrómetro de energía son: Química analítica, Mediciones de radiación, ingeniería de energía nuclear, Dispositivos semiconductores, Protección de radiación, Optoelectrónica. Equipo láser, Equipo medico, Óptica y medidas ópticas., Electricidad. Magnetismo. Mediciones eléctricas y magnéticas., Pruebas ambientales.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
  • GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.

Zhejiang Provincial Standard of the People's Republic of China, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • DB33/T 1391-2024 Determinación de biopolonio-210 mediante el método del espectrómetro de energía

SE-SIS, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • SIS SS IEC 759:1986 Instrumentación nuclear. Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Semiconductor de espectrómetro de energía

  • KS C IEC 60759:2009 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • KS C IEC 60759-2009(2019) Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • KS C IEC 60759-2019 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

GSO, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • OS GSO IEC 60759:2015 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • GSO IEC 60759:2015 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • GSO IEC 60747-15:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 15: Dispositivos semiconductores de potencia aislados
  • GSO IEC 60747-5-4:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos discretos - Parte 5-4: Dispositivos optoelectrónicos - Láseres semiconductores
  • GSO IEC 60747-14-5:2015 Dispositivos semiconductores - Parte 14-5: Sensores semiconductores - Sensor de temperatura semiconductor de unión PN

International Electrotechnical Commission (IEC), Semiconductor de espectrómetro de energía

  • IEC 60759:1983 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • IEC 60759:1983/AMD1:1991 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores; enmienda 1
  • IEC 60937:1988 Dimensiones de la tapa del criostato para detectores semiconductores de germanio para espectrómetros de rayos gamma

CZ-CSN, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • CSN 35 6575 Z1-1997 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), Semiconductor de espectrómetro de energía

  • ANSI/IEEE Std 759-1984 Procedimientos de prueba estándar IEEE para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
  • IEEE 759-1984 Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.

IN-BIS, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • IS 12737-1988 PROCEDIMIENTOS DE PRUEBA ESTÁNDAR PARA ESPECTRÓMETROS DE ENERGÍA DE RAYOS X DE SEMICONDUCTOR

SCC, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • CEI 45-35:1997 Métodos de prueba estandarizados de espectrómetros de rayos X de semiconductores.
  • BS ISO 15632:2002 Análisis de microhaces. Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
  • CEI EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables
  • CEI EN 61207-7/EC:2014 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables

中华人民共和国国家卫生和计划生育委员会, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • GB/T 11713-1989 Métodos estándar para analizar muestras de baja radiactividad gamma específica mediante espectrómetros gamma de semiconductores

British Standards Institution (BSI), Semiconductor de espectrómetro de energía

  • BS EN 61207-7:2014 Expresión de rendimiento de analizadores de gases. Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables
  • BS EN 61207-7:2013(2015) Expresión del rendimiento de los analizadores de gas Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • JEDEC JEP78-1969 Curvas de respuesta espectral relativa para detectores infrarrojos semiconductores

Group Standards of the People's Republic of China, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • T/CASME 698-2023 Aparatos de terapia con láser semiconductor
  • T/QGCML 4323-2024 Clasificador de imágenes óptico de apariencia de seis lados semiconductor inteligente

German Institute for Standardization, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • DIN EN 61207-7:2015-07 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables (IEC 61207-7:2013); Versión alemana EN 61207-7:2013 / Nota: Aplica en conjunto con DIN EN 61207-1 (2011-04).

Association Francaise de Normalisation, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • NF C46-251-7*NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
  • NF EN 61207-7:2014 Expresión del rendimiento del analizador de gases: Parte 7: Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables

Spanish Association for Standardization (UNE), Semiconductor de espectrómetro de energía

  • UNE-EN 61207-7:2013/AC:2015 Expresión de prestaciones de analizadores de gases - Parte 7: Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables (Ratificada por AENOR en septiembre de 2015.)
  • UNE-EN 61207-7:2013 Expresión de prestaciones de analizadores de gases - Parte 7: Analizadores de gases láser semiconductores sintonizables (Ratificada por AENOR en enero de 2014.)

Professional Standard - Electron, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • SJ/T 10229-1991 Instrumento gráfico para características de tubos semiconductores para tipo XJ4810.

Danish Standards Foundation, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • DANSK DS/EN 61207-7:2013 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.
  • DANSK DS/EN 61207-7/AC:2013 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Semiconductor de espectrómetro de energía

  • GJB/Z 41.3-1993 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores de espectro de serie de dispositivos discretos semiconductores militares

European Committee for Electrotechnical Standardization(CENELEC), Semiconductor de espectrómetro de energía

  • EN 61207-7:2013 Expresión del rendimiento de los analizadores de gas. Parte 7: Analizadores de gas láser semiconductores sintonizables.




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