Esta norma proporciona las directrices para la realización de pruebas estándar con espectrometros de rayos X por energía dispersiva (EDX) en semiconductores. Establece procedimientos específicos que deben seguirse durante el ensayo para garantizar resultados precisos y comparables. Se enfoca en aspectos técnicos, como la calibración del equipo, las condiciones ambientales adecuadas y los métodos de análisis. La implementación de esta norma permite una evaluación consistente y confiable de semiconductores mediante el uso de espectrometría de rayos X por energía dispersiva.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
KS C IEC 60759-2019 Historia
2024KS C IEC 60759-2024 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
2019KS C IEC 60759-2019 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
2009KS C IEC 60759:2009 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores