Defectos del cristal de telururo de bismuto

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Defectos del cristal de telururo de bismuto son: Productos de metales no ferrosos., Materiales semiconductores, pruebas de metales, Dispositivos semiconductores.


工业和信息化部, Defectos del cristal de telururo de bismuto

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Defectos del cristal de telururo de bismuto

  • GB/T 43612-2023 Mapa de defectos del material de cristal de carburo de silicio
  • GB/T 8756-1988 Colección de metalografías sobre defectos del germanio cristalino.
  • GB/T 18032-2000 El método de inspección del defecto microscópico AB en monocristal de arseniuro de galio

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Defectos del cristal de telururo de bismuto

  • GB/T 8756-2018 Colección de metalografías sobre defectos del cristal de germanio.
  • GB/T 37051-2018 Método de prueba para la determinación de la densidad de defectos cristalinos en lingotes y obleas de silicio fotovoltaico.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Defectos del cristal de telururo de bismuto

  • ASTM F47-94 Método de detección de defectos en cristales de silicio cristalino
  • ASTM F1726-02 Guía de análisis de defectos en cristales de obleas de silicio

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Defectos del cristal de telururo de bismuto

  • GB/T 35316-2017 Colección de metalografías sobre defectos del cristal de zafiro.

Professional Standard - Electron, Defectos del cristal de telururo de bismuto

Association Francaise de Normalisation, Defectos del cristal de telururo de bismuto

  • NF ISO 5618-1:2023 Cerámica técnica. Método de ensayo para defectos superficiales de cristales de GaN. Parte 1: clasificación de defectos.

British Standards Institution (BSI), Defectos del cristal de telururo de bismuto

  • 24/30499009 DC BS IEC 63581-1 Dispositivos semiconductores. Criterios de reconocimiento de defectos en obleas de fosfuro de indio pulido. Parte 1: Clasificación de defectos.

Semiconductor Equipment and Materials International (SEMI), Defectos del cristal de telururo de bismuto

  • SEMI M81-0611-2011 GUÍA DE DEFECTOS ENCONTRADOS EN SUSTRATOS DE CARBURO DE SILICIO MONOCRISTALINO

German Institute for Standardization, Defectos del cristal de telururo de bismuto

  • DIN 50446:1995 Ensayos de materiales para tecnología de semiconductores: determinación de tipos de defectos y densidades de defectos de capas epitaxiales de silicio

Group Standards of the People's Republic of China, Defectos del cristal de telururo de bismuto





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