Pieza de prueba estándar
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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Pieza de prueba estándar son: Dispositivos semiconductores.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Pieza de prueba estándar
- GB/T 39329-2020 Fabricación aditiva—Métodos de prueba—Inspección de precisión de artefactos de prueba estándar
Spanish Association for Standardization (UNE), Pieza de prueba estándar
- UNE-EN 605:1994 Pinturas y barnices. Paneles estándar para pruebas.
- UNE-EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Probeta estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006) (Ratificada por AENOR en enero de 2007.)
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GSO, Pieza de prueba estándar
- BH GSO IEC 62047-3:2016 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción
- GSO IEC 62047-3:2014 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción
SCC, Pieza de prueba estándar
- CEI EN 62047-3:2007 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para pruebas de tracción
Danish Standards Foundation, Pieza de prueba estándar
- DANSK DS/EN 62047-3:2006 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción
- DS/EN 62047-3:2007 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción
German Institute for Standardization, Pieza de prueba estándar
- DIN EN 62047-3:2007-02 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006); Versión alemana EN 62047-3:2006
Lithuanian Standards Office , Pieza de prueba estándar
- LST EN 62047-3-2007 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 3: Pieza de prueba estándar de película delgada para ensayos de tracción (IEC 62047-3:2006).