energía de rayos x

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en energía de rayos x son: Química analítica, Equipo óptico, Protección contra el crimen, Óptica y medidas ópticas., ingeniería de energía nuclear, Metrología y medición en general., Pruebas no destructivas, Papel y cartón, Mediciones de radiación.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, energía de rayos x

• GB/T 20726-2006 Especificación instrumental para espectrómetros de rayos X de energía dispersiva con detectores de semiconductores.
• GB/T 17723-1999 Método de análisis de la composición superficial de productos chapados en oro mediante EDX.
• GB/T 17362-1998 Método no destructivo de análisis EDS por rayos X con SEM para joyería de oro
• GB/T 17359-1998 Especificación general del análisis cuantitativo EDS de rayos X para EPMA y SEM
• GB/T 18873-2008 Guía general de microanálisis cuantitativo con microscopio electrónico de transmisión (TEM) y espectrometría de dispersión de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
• GB/T 18873-2002 Especificación general del microscopio electrónico de transmisión (TEM): microanálisis cuantitativo del espectro dispersivo de energía de rayos X (EDS) para muestras biológicas delgadas
• GB/T 17362-2008 Método de análisis del espectro de energía de rayos X con microscopio electrónico de barrido para productos de oro
• GB/T 11685-2003 Procedimientos de medición para sistemas detectores de rayos X de semiconductores y espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
• GB/T 17507-1998 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico
• GB/T 17507-2008 Especificación general de estándares biológicos delgados para microanálisis EDS de rayos X en microscopio electrónico de transmisión
• GB/T 17361-1998 Método de identificación de mineral arcilloso autigénico en roca sedimentaria mediante SEM y XEDS
• GB/T 20726-2015 Análisis de microhaces. Parámetros de rendimiento instrumental seleccionados para la especificación y verificación de espectrómetros de rayos X de dispersión de energía para su uso en microanálisis con sonda electrónica.
• GB/T 19267.6-2008 Examen físico y químico de rastros de evidencia en ciencias forenses. Parte 6: Microscopio electrónico de barrido/espectrometría de dispersión de energía de rayos X
• GB/T 2679.11-2008 Papel y cartón. Análisis cualitativo de cargas minerales y recubrimientos minerales. Método SEM/EDAX
• GB/T 2679.11-1993 Papel y cartón. Análisis cualitativo de cargas minerales y recubrimientos minerales. Método SEM/EDAX

Professional Standard - Judicatory, energía de rayos x

• SF/T 0139-2023 Inspección de suelos mediante microscopio electrónico de barrido/espectrometría de energía de rayos X

Professional Standard - Public Safety Standards, energía de rayos x

• GA/T 1938-2021 Ciencia forense Inspección de metales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
• GA/T 1937-2021 Ciencia forense Inspección de caucho Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X
• GA/T 1939-2021 Ciencias forenses Examen de puntos actuales Microscopía electrónica de barrido/espectroscopia de rayos X

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, energía de rayos x

• DB44/T 1216-2013 Caracterización del grafeno mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de rayos X.
• DB44/T 1215-2013 Caracterización de nanotubos de carbono de pared simple mediante microscopía electrónica de barrido y espectroscopia de energía

Gosstandart of Russia, energía de rayos x

• GOST 22091.14-1986 Dispositivos de rayos X. El método para medir la densidad del flujo de energía (densidad de flujo de fotones) de la radiación X.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), energía de rayos x

• KS C IEC 60759-2019 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
• KS C IEC 60759:2009 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
• KS C IEC 60759-2009(2019) Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

CZ-CSN, energía de rayos x

• CSN 35 6575 Z1-1997 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

GSO, energía de rayos x

• GSO IEC 60759:2015 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores
• OS GSO IEC 60759:2015 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

International Electrotechnical Commission (IEC), energía de rayos x

• IEC 60759:1983 Procedimientos de prueba estándar para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE), energía de rayos x

• IEEE 759-1984 Procedimientos de prueba para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores.
• ANSI/IEEE Std 759-1984 Procedimientos de prueba estándar IEEE para espectrómetros de energía de rayos X de semiconductores

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