Sustrato de película delgada

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Sustrato de película delgada son: Materiales aislantes, Metales no ferrosos, Óptica y medidas ópticas., Vaso.

Association Francaise de Normalisation, Sustrato de película delgada

• NF C26-113-4*NF EN 60371-3-4:1995 Especificación para materiales aislantes a base de mica. Parte 3: especificaciones para materiales individuales. Hoja 4: papel de mica con soporte de película de poliéster y aglutinante de resina epoxi de etapa B.

International Electrotechnical Commission (IEC), Sustrato de película delgada

• IEC 60371-3-4:1992/AMD1:2006 Especificaciones para materiales aislantes a base de mica - Parte 3: Especificaciones para materiales individuales - Hoja 4: Papel de mica con soporte de película de poliéster y aglutinante de resina epoxi de etapa B; Enmienda 1

German Institute for Standardization, Sustrato de película delgada

• DIN EN 60371-3-4:2007 Especificación para materiales aislantes a base de mica - Parte 3: Especificaciones para materiales individuales - Hoja 4: Papel de mica con soporte de película de poliéster y aglutinante de resina epoxi de etapa B (IEC 60371-3-4:1992 + A1:2006); Versión alemana EN 60371-3-4:1995 + A1:2006

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Sustrato de película delgada

• HD 352.3.4 S1-1994 Especificación para materiales aislantes basados en mica Parte 3: Especificaciones para materiales individuales Hoja 4: Papel de mica con soporte de película de poliéster y aglutinante de resina epoxi de etapa B
• EN 60371-3-4:1995 Especificación para materiales aislantes basados en mica Parte 3: Especificaciones para materiales individuales Hoja 4: Papel de mica con soporte de película de poliéster y aglutinante de resina epoxi de etapa B (incorpora la enmienda A1: 2006)

Professional Standard - Non-ferrous Metal, Sustrato de película delgada

• YS/T 839-2012 Método de prueba para la medición del espesor de aisladores y del índice de refracción sobre sustratos de silicio mediante elipsometría.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Sustrato de película delgada

• GB/T 40293-2021 Método de prueba para el índice de refracción de películas de calcogenuro óptico infrarrojo.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Sustrato de película delgada

• KS L 2108-2001 Métodos de prueba para la adhesión de películas delgadas sobre sustrato de vidrio.

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