Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal, Total: 104 artículos.

En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal son: Educación, Óptica y medidas ópticas., Química analítica, Protección de radiación, Pruebas no destructivas, pruebas de metales, químicos inorgánicos, Seguridad Ocupacional. Higiene industrial, Productos de la industria química., producción de metales, Metales no ferrosos, Refractarios, Plástica, Minerales no metalíferos, Materiales de construcción, Mediciones de radiación, Cerámica, Centrales eléctricas en general, Calidad del aire, Ingredientes de pintura.

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

JJG 629-1989 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG(地质) 1014-1990 Reglamento de verificación para difractómetro de rayos X policristalino
JJG 629-2014 Difractómetros de rayos X policristalinos

PT-IPQ, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

E E 14-1971 AN?LISE POR DIFRAC??O DE RAIOS X

Professional Standard - Education, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

JY/T 0588-2020 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difracción de rayos X de cristal único
JY/T 008-1996 Reglas generales para la determinación de la estructura cristalina y molecular de compuestos moleculares pequeños mediante difractómetro de rayos X de cristal único de cuatro círculos
JY/T 0587-2020 Principios generales de los métodos de difracción de rayos X de policristales.
JY/T 009-1996 Principios generales del método de derivación de rayos X de policristales con objetivo giratorio

Professional Standard - Machinery, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

JB/T 11144-2011 difractómetro de rayos X
JB/T 9400-2010 Especificación del difractómetro de rayos X.
JB/T 9400-1999 Especificación para difractómetro de rayos X.
JB/T 5482-2011 Aparato de orientación de rayos X.

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

KS M 0043-2009 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS M 0043-2009(2019) Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.
KS D ISO 14706-2003(2023) Análisis químico de superficies: medición de impurezas de elementos de superficie en obleas de silicio mediante espectrómetro de fluorescencia de rayos X de reflexión total

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

GB 16355-1996 Normas de protección radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X
GB/T 42676-2023 Método de difracción de rayos X para probar la calidad del monocristal semiconductor
GB/T 30904-2014 Productos químicos inorgánicos para uso industrial. Análisis de forma cristalina. Método de difracción de rayos X.
GB/T 8359-1987 Carburos en acero rápido. Análisis de fase cuantitativa. Método de difractómetro de rayos X.
GB/T 19421.1-2003 Métodos de prueba de disilicato de sodio en capas cristalinas - Análisis cualitativo de disilicato de sodio en capas cristalinas delta - Método de difractómetro de rayos X
GB/T 5225-1985 Materiales metálicos--Análisis de fase cuantitativo--Método de difracción de rayos X del "valor K"
GB/T 8362-1987 Austenita retenida en acero--Determinación cuantitativa--Método de difractómetro de rayos X

British Standards Institution (BSI), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

BS EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-3:2005(2009) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Instrumentos
BS EN 13925-2:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Procedimientos
BS EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS EN 13925-1:2003(2008) Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Principios generales
BS ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada). Método de prueba para la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
BS PD ISO/TS 23361:2024 Nanotecnologías. Cristalinidad de nanomateriales de celulosa mediante difracción de rayos X en polvo (análisis de Rietveld)

Occupational Health Standard of the People's Republic of China, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

GBZ 115-2002 Estándares radiológicos para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

Spanish Association for Standardization (UNE), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
UNE-EN 13925-2:2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

Danish Standards Foundation, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
DANSK DS/EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
DANSK DS/EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
DANSK DS/EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.
DANSK DS/EN 15305:2008 Ensayos no destructivos: método de prueba para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X

European Committee for Standardization (CEN), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

JIS H 7805:2005 Método para la determinación del tamaño de cristalitos en catalizadores metálicos mediante difractometría de rayos X.
JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.

Association Francaise de Normalisation, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

NF A09-280-3*NF EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: instrumentos.
NF EN 1330-11:2007 Ensayos no destructivos - Terminología - Parte 11: Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos
NF A09-280-2*NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: procedimientos.
NF X43-600-2*NF ISO 16258-2:2015 Aire en el lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: método de análisis indirecto.
NF A09-280-1*NF EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: principios generales.
NF EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X aplicada a materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: procedimientos
NF EN 15305:2009 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X

German Institute for Standardization, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

DIN EN 13925-3:2005-07 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos; Versión alemana EN 13925-3:2005
DIN EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 13925-2:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 2: Procedimientos; Versión alemana EN 13925-2:2003
DIN EN 15305 Berichtigung 1:2009-04 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008, corrección de errores según DIN EN 15305:2009-01; Versión alemana EN 15305:2008/AC:2009
DIN EN 13925-1:2003-07 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo - Parte 1: Principios generales; Versión alemana EN 13925-1:2003
DIN EN 15305:2009-01 Ensayos no destructivos - Método de ensayo para el análisis de tensiones residuales mediante difracción de rayos X; Versión alemana EN 15305:2008

Lithuanian Standards Office , Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

LST EN 13925-3-2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
LST EN 13925-2-2004 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
LST EN 13925-1-2004 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

SCC, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

AENOR UNE-EN 13925-3:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
AENOR UNE-EN 13925-1:2006 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de material policristalino y amorfo. Parte 1: Principios generales.

Standards Norway, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

NS-EN 13925-3:2005 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 3: Instrumentos.
NS-EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 2: Procedimientos.
NS-EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X a partir de materiales policristalinos y amorfos. Parte 1: Principios generales.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

GB/T 37983-2019 Métodos de prueba de difracción de rayos X para determinar la orientación de materiales cristalinos por rotación.
GB/T 36923-2018 Identificación de polvo de perlas: análisis de difracción de rayos X.
GB/T 40407-2021 Método de análisis de difracción de rayos X en polvo para determinar las fases en el clinker de cemento portland

工业和信息化部, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

YS/T 1178-2017 Método de difracción de rayos X de análisis de fase de escoria de aluminio.
YB/T 172-2020 Análisis de fase cuantitativa de ladrillos de sílice mediante el método de difracción de rayos X.
SH/T 1827-2019 Determinación de la cristalinidad de plásticos mediante el método de difracción de rayos X.
YB/T 5338-2019 Método de difractómetro de rayos X para la determinación cuantitativa de austenita en acero.

Professional Standard - Ferrous Metallurgy, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

YB/T 5336-2006 Análisis cuantitativo de la fase de carburo en acero de alta velocidad mediante el método de difracción de rayos X
YB/T 172-2000 Análisis cuantitativo de fases de ladrillos de sílice. Método de difracción de rayos X.
YB/T 5320-2006 Método del valor K de difracción de rayos X para el análisis de fase cuantitativo de materiales metálicos
YB/T 5337-2006 Método de determinación del método del difractómetro de rayos X constante de red metálica

Association of German Mechanical Engineers, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

JJF 1256-2010 Especificación de calibración para equipos de orientación de monocristales de rayos X

American National Standards Institute （ANSI), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

ANSI N43.2-2001 Seguridad radiológica para equipos de análisis de fluorescencia y difracción de rayos X

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

GB/T 34612-2017 Método de medición de la curva de oscilación de difracción de doble cristal de rayos X de cristales de zafiro

Professional Standard - Customs, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

HS/T 12-2006 Análisis cuantitativo de fase mixta de talco, clorito y magnesita. Método de difractómetro de rayos X

Professional Standard - Energy, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

NB/SH/T 6033-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X del tamiz molecular ZSM-22
NB/SH/T 6015-2020 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular ZSM-23 mediante el método de difracción de rayos X
NB/SH/T 6024-2021 Determinación de la cristalinidad relativa del método de difracción de rayos X de tamiz molecular ZSM-5
NB/SH/T 0339-2021 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del método de difracción de rayos X de tamiz molecular de faujasita

Professional Standard - Agriculture, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

57药典四部-2020 0451 Método de difracción de rayos X
77药典四部-2015 0451 Método de difracción de rayos X

Professional Standard - Nuclear Industry, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

EJ/T 553-1991 Determinación de los parámetros de las células minerales Método de difracción de rayos X en polvo
EJ/T 767-1993 Analizador de fluorescencia de rayos X excitado por fuentes radiactivas.

GSO, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

NB/SH/T 6058-2022 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular ZSM-22 mediante el método de difracción de rayos X
NB/SH/T 0972-2018 Determinación de los parámetros de la celda unitaria del tamiz molecular SAPO-11 mediante el método de difracción de rayos X en polvo
NB/SH/T 0971-2018 Determinación de la cristalinidad relativa del tamiz molecular SAPO-11 mediante el método de difracción de rayos X en polvo
BH GSO ISO 16258-2:2022 Aire en el lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: Método por análisis indirecto.
GSO ISO 16258-2:2021 Aire en el lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: Método por análisis indirecto.

International Organization for Standardization (ISO), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

ISO 22278:2020 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba para determinar la calidad cristalina de una película delgada monocristalina (oblea) utilizando el método XRD con haz de rayos X paralelo
ISO/TS 23361:2024 Nanotecnologías — Cristalinidad de nanomateriales de celulosa mediante difracción de rayos X en polvo (análisis de Rietveld)
ISO 16258-2:2015 Aire del lugar de trabajo. Análisis de sílice cristalina respirable mediante difracción de rayos X. Parte 2: Método por análisis indirecto.

Professional Standard - Energy and Power Planning, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

DL/T 1151.22-2012 Métodos analíticos de incrustaciones y productos de corrosión en centrales eléctricas. Parte 22: métodos de prueba estándar de espectrometría de fluorescencia de rayos X y difracción de rayos X.

Professional Standard - Building Materials, Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

JC/T 1085-2008 Analizador de fluorescencia de rayos X para cemento.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Análisis con difractómetro de rayos X de monocristal

ASTM D5380-93(2021) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X
ASTM D5380-93(2003) Método de prueba estándar para la identificación de pigmentos cristalinos y extensores en pintura mediante análisis de difracción de rayos X