Morfología de escaneo SEM
Morfología de escaneo SEM, Total: 65 artículos.
En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Morfología de escaneo SEM son: pruebas de metales, Fibras textiles, Óptica y medidas ópticas., Equipo óptico, Química analítica, Materiales de construcción, Vocabularios, Educación, Optoelectrónica. Equipo láser, Medidas lineales y angulares., Tratamiento superficial y revestimiento., Metales no ferrosos, Calidad del aire, Dispositivos de visualización electrónica..
Group Standards of the People's Republic of China, Morfología de escaneo SEM
- T/CNIA 0161-2023 Método para inspeccionar la microestructura y morfología de aluminio deformado y aleaciones de aluminio. Método de microscopía electrónica de barrido.
- T/SPSTS 032-2023 Especificaciones generales para microscopía electroquímica de barrido.
- T/COEMA 21O-2024 Espejo de escaneo poligonal para LIDAR
- T/CSTM 00795-2022 Datos experimentales de materiales: requisitos para imágenes de microscopio electrónico de barrido.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Morfología de escaneo SEM
- GB/T 36422-2018 Fibra sintética. Método de prueba para micromorfología y diámetro. Método de microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 28873-2012 Guía general de microscopía electrónica de barrido ambiental para efectos biológicos sobre topografía inducidos por nanopartículas.
- GB/T 16594-1996 Medición de longitud de grado en micras por SEM
- GB/T 31563-2015 Recubrimientos metálicos. Medición del espesor del recubrimiento. Método del microscopio electrónico de barrido.
- GB/T 17722-1999 Medición de espesor chapado en oro por SEM
- GB/T 20307-2006 Reglas generales para la medición de longitud a escala nanométrica mediante SEM
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Morfología de escaneo SEM
- JIS K 0132:1997 Reglas generales para la microscopía electrónica de barrido.
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Morfología de escaneo SEM
- GB/T 35099-2018 Análisis de microhaces: microscopía electrónica de barrido con espectrometría de rayos X de energía dispersiva: análisis de morfología y elementos de partículas finas individuales en el aire ambiente.
International Organization for Standardization (ISO), Morfología de escaneo SEM
- ISO/TS 21383:2021 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de barrido - Cualificación del microscopio electrónico de barrido para mediciones cuantitativas
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Morfología de escaneo SEM
- JJF 1916-2021 Especificación de calibración para microscopios electrónicos de barrido (SEM)
- JJF 1351-2012 Especificación de calibración para microscopios de sonda de barrido
Professional Standard - Machinery, Morfología de escaneo SEM
- JB/T 6842-1993 Método de prueba del microscopio electrónico de barrido.
- JB/T 5384-1991 Microscopio electrónico de barrido - Especificaciones técnicas
U.S. Military Regulations and Norms, Morfología de escaneo SEM
National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Morfología de escaneo SEM
- JJG(教委) 11-1992 Reglamento de calibración del microscopio electrónico de barrido
- JJG 550-1988 Reglamento de verificación del microscopio electrónico de barrido.
SCC, Morfología de escaneo SEM
- 13/30203227 DC BS ISO 13083. Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Normas sobre la definición y calibración de la resolución espacial de la Microscopía de Resistencia a la Difusión de Barrido y la Microscopía de Capacitancia de Barrido
- 06/30128226 DC ISO 22493. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
- VDI 3866 BLATT 5-2017 Determinación del amianto en productos técnicos: método de microscopía electrónica de barrido
American Water Works Association (AWWA), Morfología de escaneo SEM
- AWWA ACE56156 Evaluación de patrones de contaminación de la superficie de la membrana mediante un escáner de superficie plana y un microscopio electrónico de barrido
Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Morfología de escaneo SEM
- GJB 2666-1996 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
- GJB 2666A-2018 Especificación para escanear espejos reflectantes de berilio.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Morfología de escaneo SEM
- GB/T 33834-2017 Análisis de microhaces—Microscopía electrónica de barrido—Análisis con microscopio electrónico de barrido de muestras biológicas
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Morfología de escaneo SEM
Professional Standard - Commodity Inspection, Morfología de escaneo SEM
- SN/T 4388-2015 Identificación del cuero. Microscopía electrónica de barrido y microscopía óptica.
British Standards Institution (BSI), Morfología de escaneo SEM
- BS ISO 22493:2008 Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Vocabulario
- BS DISC PD 0016:2001 Escaneo de documentos. Guía para escanear documentos comerciales
- BS PD 0016:2001 Escaneo de documentos. Guía para escanear documentos comerciales
- 18/30319114 DC BS ISO 20171. Análisis de microhaces. Microscopía electrónica de barrido. Formato de archivo de imagen etiquetado para microscopía electrónica de barrido (TIFF/SEM)
GSO, Morfología de escaneo SEM
Professional Standard - Education, Morfología de escaneo SEM
- JY/T 0584-2020 Reglas generales para métodos analíticos de microscopía electrónica de barrido.
- JY/T 010-1996 Principios generales de la microscopía electrónica de barrido analítica.
- JY/T 0582-2020 Reglas generales para los métodos analíticos de microscopía de sonda de barrido
American Society for Testing and Materials (ASTM), Morfología de escaneo SEM
- ASTM E766-98 Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E766-98(2003) Práctica estándar para calibrar el aumento de un microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2382-04(2020) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E2382-04 Guía de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
- ASTM E986-04 Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E986-04(2010) Práctica estándar para la caracterización del tamaño del haz del microscopio electrónico de barrido
- ASTM E2382-04(2012) Guía estándar de artefactos relacionados con escáneres y puntas en microscopía de efecto túnel y microscopía de fuerza atómica
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Morfología de escaneo SEM
- DB31/T 297-2003 Método de calibración de aumento del microscopio electrónico de barrido.
国家能源局, Morfología de escaneo SEM
- SY/T 5162-2021 Método de análisis por microscopía electrónica de barrido de muestras de rocas.
IN-BIS, Morfología de escaneo SEM
Professional Standard - Petroleum, Morfología de escaneo SEM
- SY 5162-2014 Método de análisis de microscopía electrónica de barrido para muestras de rocas
- SY/T 5162-2014 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
- SY/T 5162-1997 Método analítico de muestra de roca mediante microscopio electrónico de barrido.
工业和信息化部, Morfología de escaneo SEM
- YS/T 1491-2021 Método para determinar la esfericidad de una aleación en polvo de alta temperatura a base de níquel mediante microscopía electrónica de barrido.
Association of German Mechanical Engineers, Morfología de escaneo SEM
- VDI 3866 Blatt 5-2004 Determinación de amianto en productos técnicos - Método de microscopía electrónica de barrido