IEC 62878-1-1:2015
Sustrato integrado en el dispositivo - Parte 1-1: Especificación genérica - Métodos de prueba

Alcance: Esta parte de la norma IEC 62878 especifica los métodos de ensayo para sustratos con componentes pasivos y activos integrados. Los métodos de ensayo básicos para materiales de sustrato para cableado impreso y sustratos se especifican en la norma IEC 61189-3. Esta parte de la norma IEC 62878 se aplica a sustratos con componentes integrados fabricados con sustratos orgánicos, incluyendo, por ejemplo, componentes activos o pasivos, componentes discretos formados durante la fabricación de placas de circuitos electrónicos y componentes formados en forma de lámina. La serie IEC 62878 no se aplica a las capas de redistribución (RDL) ni a los módulos electrónicos del modelo de negocio de tipo M, según se define en la norma IEC 62421.

IEC 62878-1-1:2015 Documento de referencia

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2015 IEC 62878-1-1:2015 Sustrato integrado en el dispositivo - Parte 1-1: Especificación genérica - Métodos de prueba