CEI EN 62878-1-1:2016
Sustrato integrado en el dispositivo Parte 1-1: Especificación genérica - Métodos de prueba

Estándar No.
CEI EN 62878-1-1:2016
Fecha de publicación
2016
Organización
Comitato Elettrotecnico Italiano
Ultima versión
CEI EN 62878-1-1:2016
 
Introducción
Esta norma define los métodos de prueba para placas de circuito impreso integradas en equipos eléctricos y electrónicos. La parte 1-1 se enfoca en las directrices generales aplicables a estos componentes, proporcionando un marco común para evaluar su rendimiento y cumplimiento con estándares específicos.

CEI EN 62878-1-1:2016 Historia

  • 2016 CEI EN 62878-1-1:2016 Sustrato integrado en el dispositivo Parte 1-1: Especificación genérica - Métodos de prueba

estándares y especificaciones

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