KS C IEC 62878-1-1-2022
Sustrato integrado en el dispositivo. Parte 1-1: Especificación genérica. Métodos de prueba.

Estándar No.
KS C IEC 62878-1-1-2022
Fecha de publicación
2022
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Ultima versión
KS C IEC 62878-1-1-2022
 
Introducción
Este documento técnico establece las normas generales y los métodos de prueba para placas base de dispositivos integrados. Se enfoca en proporcionar directrices detalladas para la evaluación y el desarrollo de estas placas base, incluyendo parámetros específicos y procedimientos experimentales.

KS C IEC 62878-1-1-2022 Historia

  • 2022 KS C IEC 62878-1-1-2022 Sustrato integrado en el dispositivo. Parte 1-1: Especificación genérica. Métodos de prueba.

estándares y especificaciones

EN 62878-1-1:2015 Sustrato integrado en el dispositivo - Parte 1-1: Especificación genérica - Métodos de prueba GOST R IEC 62878-1-1-2019 Sustrato integrado en el dispositivo. Parte 1-1. Especificación genérica. Métodos de prueba IEC 62878-1-1:2015 Sustrato integrado en el dispositivo - Parte 1-1: Especificación genérica - Métodos de prueba CEI EN 62878-1-1:2016 Sustrato integrado en el dispositivo Parte 1-1: Especificación genérica - Métodos de prueba KS C IEC 62878-1-1:2022 Sustrato integrado en el dispositivo. Parte 1-1: Especificación genérica. Métodos de prueba. NF C93-778-1-1*NF EN 62878-1-1:2015 Sustrato integrado en el dispositivo - Parte 1-1: especificación genérica - Métodos de prueba DANSK DS/EN 62878-1-1:2015 Sustrato integrado en el dispositivo - Parte 1-1: Especificación genérica - Métodos de prueba DIN EN 62878-1-1:2016 Sustrato integrado en el dispositivo - Parte 1-1: Especificación genérica - Métodos de prueba (IEC DIN EN 62878-1-1:2016-03 Sustrato integrado en el dispositivo - Parte 1-1: Especificación genérica - Métodos de prueba (IEC


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