LST EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de pruebas mecánicas y climáticas. Parte 4: Calor húmedo constante, prueba con efecto muy acelerado (HAST) (IEC 60749-4:2017)
La norma IEC 60749-4:2017(E) establece un ensayo de estrés acelerado de temperatura y humedad (HAST) para evaluar la fiabilidad de dispositivos semiconductores no herméticamente encapsulados en entornos húmedos. Esta edición incluye las siguientes modificaciones técnicas relevantes respecto a la edición anterior: a) aclaración de los requisitos relativos a temperatura, humedad relativa y duración, detallados en la Tabla 1; b) recomendaciones de incluir en el montaje de ensayo uno o más resistencias limitadoras de corriente para evitar daños en la placa de prueba o en el dispositivo bajo ensayo; c) posibilidad de introducir retardos adicionales entre la finalización del ensayo y el retorno a las condiciones de estrés.
LST EN 60749-4:2017 Historia
2017LST EN 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de pruebas mecánicas y climáticas. Parte 4: Calor húmedo constante, prueba con efecto muy acelerado (HAST) (IEC 60749-4:2017)
2003LST EN 60749-4-2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerada (HAST) (IEC 60749-4:2002)