LST EN 60749-5:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo de duración de funcionamiento bajo carga eléctrica, calor constante y humedad (IEC 60749-5:2017)

Estándar No.
LST EN 60749-5:2017
Fecha de publicación
2017
Organización
LT-LSD
Ultima versión
LST EN 60749-5:2017
 
Alcance
La norma IEC 60749-5:2017(E) establece una prueba de vida bajo polarización de temperatura y humedad en estado estable, destinada a evaluar la fiabilidad de dispositivos de estado sólido encapsulados no herméticos en ambientes húmedos. Esta segunda edición anula y sustituye a la primera edición publicada en 2003. Se trata de una revisión técnica que introduce las siguientes modificaciones significativas respecto a la edición anterior: a) corrección de un error en una ecuación; b) inclusión de notas de orientación; y c) aclaración de la aplicabilidad de las condiciones de ensayo.

LST EN 60749-5:2017 Historia

  • 2017 LST EN 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Ensayo de duración de funcionamiento bajo carga eléctrica, calor constante y humedad (IEC 60749-5:2017)
  • 2015 LST EN 14399-6-2015 Conjuntos de pernos estructurales de alta resistencia para precarga - Parte 6: Arandelas biseladas lisas
  • 2004 LST EN 60749-5-2004 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario (IEC 60749-5:2003)

estándares y especificaciones

IEC 60749-5:2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura DIN EN 60749-5 E:2016-12 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura IEC 60749-5:2023 RLV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura DIN EN 60749-4 E:2016-06 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Prueba de calor húmedo, constante y altamente acelerada (HAST IEC 60749-20/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 20: Resistencia de los SMD encapsulados en plástico al efecto combinado DIN EN 60749-41 E:2017-04 Métodos de ensayo mecánicos y climáticos para dispositivos semiconductores Parte 41: Métodos de ensayo de fiabilidad para componentes de memoria no volátil LST EN IEC 60749-5:2024 Dispositivos a nivel de pastillas. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5. Ensayo de duración bajo carga eléctrica, calor constante y humedad (IEC DIN EN IEC 60749-37:2023 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro (IEC 47 DIN EN 60749-3 E:2017-05 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo


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