LST EN 60749-5-2004 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario (IEC 60749-5:2003)
2015LST EN 14399-6-2015 Conjuntos de pernos estructurales de alta resistencia para precarga - Parte 6: Arandelas biseladas lisas
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LST EN 60749-5-2004 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil del sesgo de humedad y temperatura en estado estacionario (IEC 60749-5:2003) ha sido cambiado a LST EN 14399-6-2015 Conjuntos de pernos estructurales de alta resistencia para precarga - Parte 6: Arandelas biseladas lisas.