Este documento aborda los métodos de prueba mecánica y climática para dispositivos semiconductores. En concreto, la parte 10 se centra en las pruebas de impacto mecánico tanto para dispositivos como para componentes. Estas directrices son esenciales para evaluar la resistencia a los choques mecánicos durante el transporte y la manipulación. Ofrece procedimientos detallados para realizar estas pruebas bajo condiciones controladas, asegurando que los dispositivos cumplan con estándares de calidad específicos.
*** Tenga en cuenta: esta descripción puede no ser precisa; consulte la documentación oficial.
NF EN IEC 60749-10:2022 Historia
2022NF EN IEC 60749-10:2022 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 10: Choque mecánico. Dispositivo y subconjunto.