GB/T 43493.1-2023 Ensayos no destructivos y criterios de identificación de defectos en obleas homoepitaxiales de carburo de silicio para dispositivos de potencia de dispositivos semiconductores Parte 1: Clasificación de defectos (Versión en inglés)
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GB/T 43493.1-2023
GB/T 43493.1-2023 Historia
2023GB/T 43493.1-2023 Ensayos no destructivos y criterios de identificación de defectos en obleas homoepitaxiales de carburo de silicio para dispositivos de potencia de dispositivos semiconductores Parte 1: Clasificación de defectos