GB/T 43493.3-2023
Ensayos no destructivos y criterios de identificación de defectos en obleas homoepitaxiales de carburo de silicio para dispositivos de potencia de dispositivos semiconductores Parte 3: Método de detección de defectos por fotoluminiscencia (Versión en inglés)

Estándar No.
GB/T 43493.3-2023
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2023
Organización
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión
GB/T 43493.3-2023

GB/T 43493.3-2023 Historia

  • 2023 GB/T 43493.3-2023 Ensayos no destructivos y criterios de identificación de defectos en obleas homoepitaxiales de carburo de silicio para dispositivos de potencia de dispositivos semiconductores Parte 3: Método de detección de defectos por fotoluminiscencia

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