GB/T 43493.3-2023
Ensayos no destructivos y criterios de identificación de defectos en obleas homoepitaxiales de carburo de silicio para dispositivos de potencia de dispositivos semiconductores Parte 3: Método de detección de defectos por fotoluminiscencia (Versión en inglés)

Estándar No.
GB/T 43493.3-2023
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2023
Organización
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión
GB/T 43493.3-2023
 

GB/T 43493.3-2023 Historia

  • 2023 GB/T 43493.3-2023 Ensayos no destructivos y criterios de identificación de defectos en obleas homoepitaxiales de carburo de silicio para dispositivos de potencia de dispositivos semiconductores Parte 3: Método de detección de defectos por fotoluminiscencia

Temas especiales sobre estándares y normas

estándares y especificaciones

BS IEC 63068-1:2019 Dispositivos semiconductores. Criterios de reconocimiento no destructivo de defectos en oblea homoepitaxial de carburo de silicio para dispositivos de potencia BS IEC 63068-3:2020 Dispositivos semiconductores. Criterios de reconocimiento no destructivo de defectos en oblea homoepitaxial de carburo de silicio para dispositivos de potencia BS IEC 63068-2:2019 Dispositivos semiconductores. Criterios de reconocimiento no destructivo de defectos en oblea homoepitaxial de carburo de silicio para dispositivos de potencia IEC 63068-2:2019 Dispositivos semiconductores. Criterios de reconocimiento no destructivo de defectos en oblea homoepitaxial de carburo de silicio para dispositivos de potencia ISO 21820:2021 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada): método de prueba de imagen de fotoluminiscencia ultravioleta para analizar politipos de cristales ASTM F951-02 Método de ensayo para determinar la variación del contenido de oxígeno en la dirección radial de obleas de silicio ASTM F951-96 Método de prueba estándar para la determinación de la variación radial del oxígeno intersticial en obleas de silicio ASTM F951-01 Método de prueba estándar para la determinación de la variación radial del oxígeno intersticial en obleas de silicio ASTM F1771-97 Método de prueba estándar para evaluar la integridad del óxido de compuerta mediante la técnica de rampa de voltaje ASTM F1771-97(2002 Técnica de rampa de voltaje para evaluar la integridad del óxido de la compuerta

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