ASTM F1262M-14 Guía estándar para pruebas de umbral de alteración de radiación transitoria de circuitos integrados digitales (métricos) normas y especificaciones

Alcance: 5.1 Los circuitos lógicos digitales se utilizan en aplicaciones de sistemas donde están expuestos a pulsos de radiación. Es importante conocer el nivel mínimo de radiación al cual se pueden inducir fallas transitorias, ya que esto afecta el funcionamiento del sistema. 1.1 Esta guía tiene como objetivo ayudar a los experimentadores a medir el umbral de alteración de la radiación transitoria de circuitos integrados digitales de silicio expuestos a pulsos de radiación ionizante superiores a 103 Gy (matl.)/s. 1.1.1 Discusión&#—Este documento pretende ser una guía para determinar el umbral de alteración y no pretende ser un documento independiente. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM F1262M-14 Documento de referencia

ASTM E666 Práctica estándar para calcular la dosis absorbida de radiación gamma o X
ASTM E668 Práctica estándar para la aplicación de sistemas de termoluminiscencia-dosimetría (TLD) para determinar la dosis absorbida en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos*， 2020-07-01 Actualizar
ASTM F1893 Guía para la medición del desgaste de la tasa de dosis ionizante de dispositivos semiconductores

2014 ASTM F1262M-14 Guía estándar para pruebas de umbral de alteración de radiación transitoria de circuitos integrados digitales (métricos)
1995 ASTM F1262M-95(2008) Guía estándar para pruebas de umbrales de alteración de radiación transitoria de circuitos integrados digitales (métrico)
1995 ASTM F1262M-95(2002) Guía estándar para el umbral de alteración de la radiación transitoria de los circuitos integrados digitales
1995 ASTM F1262M-95 Guía estándar para el umbral de alteración de la radiación transitoria de los circuitos integrados digitales