Los circuitos lógicos digitales se utilizan en aplicaciones de sistemas donde están expuestos a pulsos de radiación. Es importante conocer el nivel mínimo de radiación al que se pueden inducir fallas transitorias, ya que esto afecta la operación del sistema.1.1 Esta guía tiene como objetivo ayudar a los experimentadores a medir el umbral de alteración de la radiación transitoria de circuitos integrados digitales de silicio expuestos a pulsos de radiación ionizante superiores a 103 Gy (Si)/s. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hubiera, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM F1262M-95(2008) Historia
2014ASTM F1262M-14 Guía estándar para pruebas de umbral de alteración de radiación transitoria de circuitos integrados digitales (métricos)
1995ASTM F1262M-95(2008) Guía estándar para pruebas de umbrales de alteración de radiación transitoria de circuitos integrados digitales (métrico)
1995ASTM F1262M-95(2002) Guía estándar para el umbral de alteración de la radiación transitoria de los circuitos integrados digitales
1995ASTM F1262M-95 Guía estándar para el umbral de alteración de la radiación transitoria de los circuitos integrados digitales