ASTM F1262M-95
Guía estándar para el umbral de alteración de la radiación transitoria de los circuitos integrados digitales

Estándar No.

ASTM F1262M-95

Fecha de publicación

1995

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM F1262M-95(2002)

Ultima versión

ASTM F1262M-14

Alcance

1.1 Esta guía tiene como objetivo ayudar a los experimentadores a medir el umbral de alteración de la radiación transitoria de circuitos integrados digitales de silicio expuestos a pulsos de radiación ionizante superiores a 103 Gy (Si)/s. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hubiera, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM F1262M-95 Historia

• 2014 ASTM F1262M-14 Guía estándar para pruebas de umbral de alteración de radiación transitoria de circuitos integrados digitales (métricos)
• 1995 ASTM F1262M-95(2008) Guía estándar para pruebas de umbrales de alteración de radiación transitoria de circuitos integrados digitales (métrico)
• 1995 ASTM F1262M-95(2002) Guía estándar para el umbral de alteración de la radiación transitoria de los circuitos integrados digitales
• 1995 ASTM F1262M-95 Guía estándar para el umbral de alteración de la radiación transitoria de los circuitos integrados digitales