Esta práctica establece los parámetros y controles mínimos básicos para la aplicación del examen radiológico de dispositivos electrónicos. Se abordan factores como el manejo de dispositivos, equipos, ESDS, materiales, calificación del personal, procedimientos y requisitos de calidad, informes, registros y sensibilidad a la radiación. Esta práctica está escrita para que pueda especificarse en el plano de ingeniería, especificación o contrato. No es un procedimiento detallado y debe complementarse con una técnica/procedimiento de examen detallado (ver 9.1). Esta práctica no establece límites a la dosis de radiación, pero sí enumera los requisitos para limitar y documentar la dosis de radiación a los dispositivos. Cuando los límites de dosis de radiación son un problema, el solicitante de exámenes radiológicos debe ser consciente de este problema e indicar cualquier limitación máxima de dosis de radiación que se requiera en el acuerdo contractual entre las partes usuarias.1.1 Esta práctica proporciona los requisitos mínimos para el examen radiológico no destructivo de dispositivos semiconductores, dispositivos microelectrónicos, dispositivos electromagnéticos, dispositivos electrónicos y eléctricos, y los materiales utilizados para la construcción de estos artículos. 1.2 Esta práctica cubre el examen radiológico de estos artículos para detectar posibles condiciones defectuosas dentro de la caja sellada, especialmente aquellas resultantes del sellado de la tapa a la caja, y defectos internos como material extraño (objetos extraños), cables de interconexión inadecuados, huecos en el material adherido al troquel o en el vidrio (cuando se utiliza vidrio sellador) o daños físicos. 1.3 Los valores indicados en unidades pulgada-libra se considerarán estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta práctica. 1.4 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E1161-09 Historia
2021ASTM E1161-21 Práctica estándar para el examen radiográfico de semiconductores y componentes electrónicos
2009ASTM E1161-09(2014) Práctica estándar para el examen radiológico de semiconductores y componentes electrónicos
2009ASTM E1161-09 Práctica estándar para el examen radiológico de semiconductores y componentes electrónicos
2003ASTM E1161-03 Método de prueba estándar para el examen radiológico de semiconductores y componentes electrónicos
1995ASTM E1161-95 Método de prueba estándar para el examen radiológico de semiconductores y componentes electrónicos