ASTM E1161-21
Práctica estándar para el examen radiográfico de semiconductores y componentes electrónicos

Estándar No.

ASTM E1161-21

Fecha de publicación

2021

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Ultima versión

ASTM E1161-21

Alcance

1.1 Esta práctica proporciona los requisitos mínimos para el examen radiográfico no destructivo de dispositivos semiconductores, dispositivos microelectrónicos, dispositivos electromagnéticos, dispositivos electrónicos y eléctricos, y los materiales utilizados para la construcción de estos artículos. 1.2?Esta práctica

ASTM E1161-21 Documento de referencia

• ANSI/ESD S20.20 
• ASTM E1000 Guía estándar para radioscopía
• ASTM E1079 Práctica estándar para la calibración de densitómetros de transmisión*， 2021-11-01 Actualizar
• ASTM E1255 Práctica estándar para radioscopía
• ASTM E1316 Terminología estándar para exámenes no destructivos (paquete PDF estándar + Redline)
• ASTM E1390 Guía estándar para iluminadores utilizados para visualizar radiografías industriales
• ASTM E1411 Práctica estándar para la calificación de sistemas radioscópicos
• ASTM E1453 Guía estándar para el almacenamiento de medios que contienen datos radioscópicos analógicos o digitales
• ASTM E1475 Guía estándar para campos de datos para la transferencia computarizada de datos de pruebas radiológicas digitales
• ASTM E1742/E1742M Práctica estándar para el examen radiográfico
• ASTM E1815 Método de prueba estándar para la clasificación de sistemas de películas para radiografía industrial
• ASTM E1817 Práctica estándar para controlar la calidad del examen radiológico mediante el uso de indicadores de calidad representativos (RQI)
• ASTM E1936 Radiografía de referencia estándar para evaluar el rendimiento de los sistemas de digitalización radiográfica
• ASTM E2002 Práctica estándar para determinar la falta de nitidez total de la imagen en radiología
• ASTM E2007 Guía estándar para radiografía computarizada*， 2023-06-01 Actualizar
• ASTM E2033 Práctica estándar para radiología computarizada (método de luminiscencia fotoestimulable)
• ASTM E2339 Práctica estándar para imágenes y comunicación digitales en evaluación no destructiva (DICONDE)*， 2021-12-01 Actualizar
• ASTM E2445/E2445M Práctica estándar para la evaluación del rendimiento y la estabilidad a largo plazo de los sistemas de radiografía computarizada
• ASTM E2597/E2597M Práctica estándar para la caracterización de fabricación de conjuntos de detectores digitales*， 2022-01-01 Actualizar
• ASTM E2698 Práctica estándar para el examen radiográfico utilizando conjuntos de detectores digitales
• ASTM E2736 Guía estándar para radiografía de matriz de detectores digitales*， 2022-12-01 Actualizar
• ASTM E2737 Práctica estándar para la evaluación del rendimiento y la estabilidad a largo plazo del conjunto de detectores digitales*， 2023-07-01 Actualizar
• ASTM E431 Guía estándar para la interpretación de radiografías de semiconductores y dispositivos relacionados*， 2022-10-01 Actualizar
• ASTM E543 Práctica estándar para agencias que realizan pruebas no destructivas
• ASTM E666 Práctica estándar para calcular la dosis absorbida de radiación gamma o X
• ASTM E801 Práctica estándar para controlar la calidad del examen radiológico de dispositivos electrónicos
• ASTM E94/E94M Guía estándar para el examen radiográfico utilizando película radiográfica industrial*， 2022-12-01 Actualizar
• ASTM E999 Guía estándar para controlar la calidad del procesamiento de películas radiográficas industriales
• ISO 9712 Ensayos no destructivos. Cualificación y certificación del personal de END*， 2021-12-21 Actualizar

ASTM E1161-21 Historia

• 2021 ASTM E1161-21 Práctica estándar para el examen radiográfico de semiconductores y componentes electrónicos
• 2009 ASTM E1161-09(2014) Práctica estándar para el examen radiológico de semiconductores y componentes electrónicos
• 2009 ASTM E1161-09 Práctica estándar para el examen radiológico de semiconductores y componentes electrónicos
• 2003 ASTM E1161-03 Método de prueba estándar para el examen radiológico de semiconductores y componentes electrónicos
• 1995 ASTM E1161-95 Método de prueba estándar para el examen radiológico de semiconductores y componentes electrónicos