GB/T 38341-2019
Tecnología de sistemas microelectromecánicos: métodos de prueba de confiabilidad de MEMS en entornos integrados (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 38341-2019
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2019
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Ultima versión
- GB/T 38341-2019
- Alcance
- Esta norma especifica los métodos de prueba y el procesamiento de resultados de fallas para el entorno de confiabilidad integral de los dispositivos MEMS. Esta norma se aplica a los dispositivos MEMS que requieren pruebas de confiabilidad.
GB/T 38341-2019 Documento de referencia
- GB/T 26111 Terminología técnica de sistemas microelectromecánicos (MEMS)*， 2023-05-23 Actualizar
GB/T 38341-2019 Historia
- 2019 GB/T 38341-2019 Tecnología de sistemas microelectromecánicos: métodos de prueba de confiabilidad de MEMS en entornos integrados
Temas especiales sobre estándares y normas
estándares y especificaciones
BS IEC 62047-31:2019 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos: método de prueba de flexión de cuatro puntos para la energía de adhesión interfacial
BS IEC 62047-29:2017 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos: método de prueba de relajación electromecánica para películas delgadas conductoras
IEC 62047-31:2019 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 31: Método de prueba de flexión de cuatro puntos para la energía de adhesión
DS/EN 62047-4:2010 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 4: Especificación genérica para MEMS
EN 62047-25:2016 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 25: Tecnología de fabricación MEMS basada en silicio - Método de medición
GSO IEC 62047-25:2021 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 25: Tecnología de fabricación MEMS basada en silicio - Método de medición
BS IEC 62047-48:2024 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos: método de prueba para determinar la concentración de la solución mediante absorción óptica
IEC 62047-44:2024 Dispositivos semiconductores. Dispositivos microelectromecánicos. Parte 44: Métodos de prueba para el rendimiento dinámico de dispositivos MEMS sensibles
IEC 62047-4:2008 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 4: Especificaciones genéricas para MEMS
GSO IEC 62047-4:2013 Dispositivos semiconductores - Dispositivos microelectromecánicos - Parte 4: Especificación genérica para MEMS