NF C96-022-28*NF EN IEC 60749-28:2022
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 28: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de dispositivo cargado (CDM). Nivel de dispositivo.

Estándar No.
NF C96-022-28*NF EN IEC 60749-28:2022
Fecha de publicación
2022
Organización
Association Francaise de Normalisation
Ultima versión
NF C96-022-28*NF EN IEC 60749-28:2022
 
Introducción
Este documento establece métodos para probar la sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) en dispositivos electrónicos. En particular, se centra en el modelo de dispositivo cargado (CDM) y proporciona directrices detalladas para realizar pruebas a nivel de dispositivo. Esta norma es parte de una serie que aborda diversas pruebas mecánicas y climáticas para dispositivos semiconductores.

NF C96-022-28*NF EN IEC 60749-28:2022 Historia

  • 2022 NF C96-022-28*NF EN IEC 60749-28:2022 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 28: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de dispositivo cargado (CDM). Nivel de dispositivo.

estándares y especificaciones

GSO IEC 60749-28:2021 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo EN 60749-28:2017 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo EN IEC 60749-28:2022 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo IEC 60749-28:2022 RLV semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo IEC 60749-28:2017 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo CEI EN IEC 60749-28:2022 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de dispositivo cargado (CDM). Nivel de dispositivo. NF EN 60749-28:2017 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 28: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de dispositivo cargado (CDM). Nivel de dispositivo. BH GSO IEC 60749-28:2022 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo PNS IEC 60749-28:2021 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo IEC 60749-28:2022 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo


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