PNS IEC 60749-28:2021
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo

Estándar No.
PNS IEC 60749-28:2021
Fecha de publicación
2021
Organización
Bureau of Philippine Standards
Ultima versión
PNS IEC 60749-28:2021
 
Introducción
Este estándar establece métodos para evaluar la sensibilidad de los dispositivos semiconductores a descargas electrostáticas mediante el modelo de carga del dispositivo (CDM). Se enfoca en la realización de pruebas a nivel del dispositivo, lo que permite determinar su resistencia frente a descargas electrostáticas en condiciones específicas. El documento proporciona instrucciones detalladas sobre el procedimiento de prueba, los equipos necesarios y los criterios de aceptación. Además, incluye información sobre las condiciones ambientales y los parámetros de prueba que deben seguirse para garantizar la consistencia y la reproducibilidad de los resultados. El estándar también aborda aspectos relacionados con la preparación de los dispositivos y la interpretación de los datos obtenidos durante las pruebas.

PNS IEC 60749-28:2021 Historia

  • 2021 PNS IEC 60749-28:2021 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo

estándares y especificaciones

GSO IEC 60749-28:2021 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo EN 60749-28:2017 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo EN IEC 60749-28:2022 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo IEC 60749-28:2022 RLV semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo IEC 60749-28:2017 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo CEI EN IEC 60749-28:2022 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de dispositivo cargado (CDM). Nivel de dispositivo. NF EN 60749-28:2017 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 28: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de dispositivo cargado (CDM). Nivel de dispositivo. BH GSO IEC 60749-28:2022 semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 28: Pruebas de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD) - Modelo de dispositivo cargado (CDM) - nivel de dispositivo NF C96-022-28*NF EN IEC 60749-28:2022 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 28: Prueba de sensibilidad a descargas electrostáticas (ESD). Modelo de dispositivo cargado (CDM). Nivel de dispositivo.


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