BS PD IEC/TR 63133:2017
Dispositivos semiconductores. Estimación del nivel de envejecimiento basada en escaneo para dispositivos semiconductores

Estándar No.
BS PD IEC/TR 63133:2017
Fecha de publicación
2018
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
BS PD IEC/TR 63133:2017
 
Alcance
BS PD IEC/TR 63133:2017 especifica una técnica de diseño de elemento de almacenamiento de estimación de rendimiento, que puede monitorear el envejecimiento de los semiconductores y caracterizar el nivel de envejecimiento. El nivel de envejecimiento estimado se puede utilizar para mejorar la confiabilidad del sistema. Referencias cruzadas: IEEE 1149.

BS PD IEC/TR 63133:2017 Historia

  • 2018 BS PD IEC/TR 63133:2017 Dispositivos semiconductores. Estimación del nivel de envejecimiento basada en escaneo para dispositivos semiconductores

Temas especiales sobre estándares y normas

Diseño de semiconductores Basado en fotocatálisis de semiconductores.

estándares y especificaciones

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