BS IEC 62528:2007(2010) Método de prueba estándar para circuitos integrados basados en núcleos integrados normas y especificaciones

Alcance: La norma IEEE Std 1500 desarrolla una metodología estándar de diseño de testabilidad para circuitos integrados (CI) que contienen núcleos integrados no fusionables. Esta metodología es independiente de la funcionalidad subyacente del CI o de sus núcleos integrados individuales. Esta metodología establece los requisitos necesarios para probar dichos CI, permitiendo a la vez la fácil interoperabilidad de núcleos de diferentes orígenes. La norma IEEE Std 1500 busca proporcionar una solución consistente y escalable a los desafíos de reutilización de pruebas específicos de la reutilización de núcleos no fusionables, preservando al mismo tiempo los aspectos de propiedad intelectual típicamente asociados con estos núcleos. Este objetivo se logra mediante una metodología centrada en el núcleo que permite su correcta integración en un SoC.

BS IEC 62528:2007(2010) Documento de referencia

BS IEC 62528:2007 Método de prueba estándar para circuitos integrados basados en núcleos incorporados
IEEE Std 1149.1 Estándar IEEE para puerto de acceso de prueba y arquitectura de escaneo de límites - Redline

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2007 BS IEC 62528:2007 Método de prueba estándar para circuitos integrados basados en núcleos incorporados