IEEE 1500-2022
Método de prueba estándar IEEE para circuitos integrados basados en núcleos integrados

Estándar No.

IEEE 1500-2022

Fecha de publicación

2022

Organización

Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

Ultima versión

IEEE 1500-2022

Alcance

IEEE Std 1500 es un diseño estándar para la metodología de capacidad de prueba de circuitos integrados (CI) que contienen núcleos no integrables incorporados. El enfoque es independiente de la funcionalidad subyacente del IC o de sus núcleos integrados individuales. Este enfoque respalda los requisitos necesarios para probar dichos circuitos integrados y al mismo tiempo permite la interoperabilidad de núcleos que pueden provenir de diferentes fuentes. Este enfoque es aplicable a todas las categorías de núcleos digitales, incluidos los núcleos jerárquicos. La norma IEEE Std 1500 tiene como objetivo proporcionar una solución consistente y escalable a los desafíos de reutilización de pruebas de núcleos no fusionables, preservando al mismo tiempo los aspectos de propiedad intelectual (PI) típicamente asociados con estos núcleos. Este objetivo se logra proporcionando una metodología centrada en el núcleo que permite la integración exitosa de los núcleos en los SoC. IEEE Std 1500 construye un puente entre los proveedores principales y los usuarios principales y facilita la automatización de la transmisión y reutilización de datos de prueba mediante el uso de IEEE 1450.6 CTL. Esta automatización se basa en los requisitos de información (modelo de información) de los proveedores principales para garantizar que los usuarios principales puedan integrar el núcleo con éxito. El resultado es un tiempo de comercialización más rápido tanto para los proveedores como para los usuarios principales.

IEEE 1500-2022 Documento de referencia

• IEEE Std 1149.1 Estándar IEEE para puerto de acceso de prueba y arquitectura de escaneo de límites - Redline
• IEEE Std 1450.6 Lenguaje de interfaz de prueba estándar IEEE (STIL) para pruebas digitales Lenguaje de prueba de núcleo de datos vectoriales (CTL)*， 2025-05-09 Actualizar
• IEEE Std 1687 Estándar IEEE para acceso y control de instrumentación integrada en un dispositivo semiconductor

IEEE 1500-2022 Historia

• 2022 IEEE 1500-2022 Método de prueba estándar IEEE para circuitos integrados basados en núcleos integrados
• 2005 IEEE 1500-2005 Método de prueba estándar para circuitos integrados basados en núcleos incorporados Documento de IEEE Computer Society

estándares y especificaciones