DIN EN 60749-16:2003-09
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND) (IEC 60749-16:2003); Versión alemana EN 60749-16:2003
- Estándar No.
- DIN EN 60749-16:2003-09
- Fecha de publicación
- 2003
- Organización
- German Institute for Standardization
- Ultima versión
- DIN EN 60749-16:2003-09
DIN EN 60749-16:2003-09 Historia
- 2003 DIN EN 60749-16:2003-09 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND) (IEC 60749-16:2003); Versión alemana EN 60749-16:2003
- 2003 DIN EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND) (IEC 60749-16:2003); Versión alemana EN 60749-16:2003
- 0000 DIN EN 60749-16:2002
Temas especiales sobre estándares y normas
estándares y especificaciones
DIN EN 60749-16:2003 semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND) (IEC 60749-16:2003); Versión alemana EN 60749-16:2003
IEC 60749-37:2022 RLV Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 37: Método de prueba de caída a nivel de placa utilizando un acelerómetro
VDE 0631-2-16 E*DIN IEC 60730-2-16:2004-03