Prueba de ruido de partículas (PIND)

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En la clasificación estándar internacional, las clasificaciones involucradas en Prueba de ruido de partículas (PIND) son: Dispositivos semiconductores, Acústica y mediciones acústicas..

SCC, Prueba de ruido de partículas (PIND)

• MIL MIL-STD-202/217-2015 Método 217, Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)
• DANSK DS/EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND).

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IEC - International Electrotechnical Commission, Prueba de ruido de partículas (PIND)

• PAS 62171-2000 Directrices para pruebas de detección de ruido de impacto de partículas (PIND) en capacitación y certificación de operadores (Edición 1.0)

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Prueba de ruido de partículas (PIND)

• KS C IEC 60749-16-2006(2016) Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)
• KS C IEC 60749-16:2006 Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)
• KS C IEC 60749-16-2021 Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)
• KS C IEC 60749-16-2006(2021) Dispositivos semiconductores －Métodos de prueba mecánicos y climáticos －Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)

Danish Standards Foundation, Prueba de ruido de partículas (PIND)

• DS/EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND).

International Electrotechnical Commission (IEC), Prueba de ruido de partículas (PIND)

• IEC 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND).

German Institute for Standardization, Prueba de ruido de partículas (PIND)

• DIN EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND) (IEC 60749-16:2003); Versión alemana EN 60749-16:2003
• DIN EN 60749-16:2003-09 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND) (IEC 60749-16:2003); Versión alemana EN 60749-16:2003

Spanish Association for Standardization (UNE), Prueba de ruido de partículas (PIND)

• UNE-EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)

European Committee for Electrotechnical Standardization（CENELEC）, Prueba de ruido de partículas (PIND)

• EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores Métodos de prueba mecánicos y climáticos Parte 16: Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)

Professional Standard - Aerospace, Prueba de ruido de partículas (PIND)

• QJ 2863-1996 Requisitos y métodos de detección de ruido de impacto de partículas (PIND) para componentes electrónicos aeroespaciales

British Standards Institution (BSI), Prueba de ruido de partículas (PIND)

• BS EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de ensayo mecánicos y climáticos - Detección de ruido de impacto de partículas (PIND)

(U.S.) Joint Electron Device Engineering Council Soild State Technology Association, Prueba de ruido de partículas (PIND)

• JEDEC JEP114.01-2007 Directrices para pruebas, capacitación de operadores y certificación de detección de ruido de impacto de partículas (PIND) (revisión menor de JEP114, diciembre de 1989)
• JEDEC JEP114-1989 Directrices para pruebas, capacitación y certificación de operadores de detección de ruido de impacto de partículas (PIND)

Association Francaise de Normalisation, Prueba de ruido de partículas (PIND)

• NF C96-022-16*NF EN 60749-16:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 16: detección del ruido de impacto de partículas (PIND).

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